[实用新型]可控硅检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种检测电路，特别是一种能够检测可控硅短路和断路的失效状态的可控硅检测电路。

背景技术

目前波轮洗衣机系统多采用交流感应电机作为驱动，其驱动电路采用双向可控硅控制方式。可控硅由于以下原因可能导致损坏：

1、过压击穿：可控硅因不能承受其耐压值而损坏，或由于可控硅本身耐压下降或被电路断开时产生的反电动势击穿。

2、过流损坏：有两种可能会导致过流损坏，一种是可控硅上流过的电流超过其额定电流，另一种是电流的变化率过大导致的器件失效。

失效后的可控硅表征为断路与短路两种情况，器件本身处于不可控状态，容易引起负载烧毁等安全事故。因此，对于可控硅的失效检测尤为重要。

实用新型内容

为解决现有技术问题，有必要提供一种能够分别检测可控硅短路和断路的失效状态的可控硅检测电路。

一种可控硅检测电路，包括一驱动电路、一反馈电路和一单片机，该驱动电路和该反馈电路分别连接该单片机，该反馈电路还连接到该单片机，该驱动电路接收单片机提供的控制信号，并输出对应的反馈信号至该反馈电路，该反馈电路对该反馈信号进行处理后输出至该单片机，该单片机根据接收到的处理后的反馈信号波形变化检测该驱动电路中可控硅是否失效。

在本实用新型可控硅检测电路中，该控制信号包括一第一控制信号和一第二控制信号，该驱动电路包括一第一可控硅和一第二可控硅，该单片机包括一第一反馈信号端和一第二反馈信号端，该第一、第二控制信号分别用于控制该第一、第二可控硅，该第一、第二反馈信号端分别用于接收一第一反馈信号和一第二反馈信号。

在本实用新型可控硅检测电路中，该驱动电路包括一第一三极管和一第二三极管，分别用于驱动该第一可控硅和该第二可控硅，该第一、第二三极管的基极分别接收该第一、第二控制信号。

在本实用新型可控硅检测电路中，当该可控硅检测电路通电待机时，该第一、第二反馈信号端处的波形为方波波形则该第一、第二可控硅正常，该第一或第二反馈信号端处的波形为高电平时，则该第一或第二可控硅短路，若该第一和第二反馈信号端处的波形均为不规律波形则该第一和第二可控硅均短路。

在本实用新型可控硅检测电路中，当该可控硅检测电路正常工作时，该第一、第二反馈信号端处的波形为高电平则该第一、第二可控硅正常，该第一或第二反馈信号端处的波形仍然为方波则该第一或第二可控硅对应断路。

在本实用新型可控硅检测电路中，该反馈电路包括与反馈信号串联的高压限流电阻和箝位极管。

在本实用新型可控硅检测电路中，还包括一蜂鸣器，其连接在该单片机上，用于在检测出可控硅失效时进行蜂鸣报警。

相较于现有技术，本实用新型可控硅检测电路包括该驱动电路、该反馈电路和单片机，该驱动电路接收该单片机的控制信号并输出对应的反馈信号至该反馈电路，该反馈电路对反馈信号进行处理后输送至该单片机，从该处理后的反馈信号的波形变化可以判断出该驱动电路中的可控硅是否失效，以及可以分辨是短路失效还是断路失效，具有成本低、电路简单、性能可靠等优点。

附图说明

图1是本实用新型可控硅检测电路方框示意图。

图2是图1所示驱动电路的电路结构示意图。

图3是图1所示反馈电路的电路结构示意图。

图4-7是图1所示可控硅检测电路的检测波形示意图。

具体实施方式

下面将结合说明书附图对本实用新型实施方式作具体说明。

请参阅图1，是本实用新型可控硅检测电路的方框示意图。该可控硅检测电路10包括一驱动电路20、一反馈电路30和一单片机(图未示)。该驱动电路20接收单片机提供的第一控制信号CtrlCCW和第二控制信号CtrlCW，并对应输出第一反馈信号CW和第二反馈信号CCW到该反馈电路30。该反馈电路30对该第一、第二反馈信号CW和CCW分别进行处理后输出至该单片机。该单片机根据接收到的处理后的反馈信号波形变化检测该驱动电路20中可控硅是否失效。

请参阅图2-3，是图1所示驱动电路20和反馈电路30的电路结构示意图。该驱动电路20包括第一可控硅SCR5和第二可控硅SCR6，电阻R8、R9、R10、R11、R12、R13、R14、R15，第一三极管TR1和第二三极管TR2，以及压敏电阻器ZNR2、ZNR3。

其中，该电阻R11、R15为限流电阻，R10、R14为三极管TR1和TR2的偏置电阻。该第一、第二三极管TR1、TR2分别作为该第一、第二可控硅SCR5、SCR6的驱动三极管。