[实用新型]影像测量的同轴激光导航系统

说明书

技术领域：本实用新型涉及光学测量仪器，特别是一种应用于影像测量的同轴激光导航系统。

背景技术：影像测量系统指：利用光学系统将被测物成像，利用X、Y坐标测量系统对所成影像进行的测量，影像的接收，可以直接用人眼目视或用摄像头摄取。由于像面尺寸有限，必须将被测目标移动到成像光轴上才能开始测量，测量完毕，再移动到下一个被测目标。由于影像移动的速度被成像系统放大，影像从像面上快速掠过，影像中的目标难以识别。这对于结构精细、被测元素密集的测量带来了困难，往往反复多次才能找到目标，降低了测量效率。能够解决以上困难，实现快速捕捉被测目标的系统，被形象地称为：“导航系统”。

发明内容：本实用新型的目的在于提供一种影像测量的同轴激光导航系统，应用于影像测量过程中，实现被测目标快速捕捉的目的。

本实用新型的构成：由半导体激光器和半透半反射镜组成，半透半反射镜置于影像测量设备的成像光轴上，半导体激光器位于成像光轴一侧，其轴线与半透半反射镜的入射光轴重合，在成像光轴的下方有被测件，被测件放置在X、Y坐标测量系统上。

导航光线与成像光线同轴。

与现有技术比较，本实用新型导航系统目标捕捉迅速、操作直观方便、结构简单、成本低廉，而且由于导航光线与成像光线同轴，与非同轴系统相比，即使成像系统与被测面距离发生改变或离焦，也能准确导航。

附图说明：附图是本实用新型的系统示意图。

图中1.半导体激光器，2.摄像头或目视观察系统，3.半透半反射镜，4.成像光轴，5.可见光点，6.被测件，7.X、Y坐标测量系统。

具体实施方式：如图所示，在影像测量设备成像光轴4上的适当位置安装半透半反射镜3，在其入射方安装半导体激光器1，调整半导体激光器的位置，使之入射光线经反射后与设备的成像光轴4重合，即构成了本实用新型。在成像光轴4的下方有被测件6，被测件放置在X、Y坐标测量系统7上，半导体激光器发出的可见光细光束经半透半反射镜反射，射到被测件6上，形成一个高亮度可见光点5。半导体激光器由低压电源供电，具有电源开关。