[实用新型]一种相衬技术双探测器异物检测装置无效
| 申请号: | 200920113569.3 | 申请日: | 2009-02-09 |
| 公开(公告)号: | CN201382906Y | 公开(公告)日: | 2010-01-13 |
| 发明(设计)人: | 高秀敏;蒋惠忠;沈海滨 | 申请(专利权)人: | 高秀敏;蒋惠忠 |
| 主分类号: | G01N21/90 | 分类号: | G01N21/90;G01N21/896 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 310018浙江省杭州市下沙高教*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 技术 探测器 异物 检测 装置 | ||
1、一种相衬技术双探测器异物检测装置,包括光源组件、光束会聚器件、柱面整形器、相衬组件、成像物镜组件、分光镜、第一光电探测器阵列、第二光电探测器阵列,其特征在于:光束会聚器件、柱面整形器、相衬组件、成像物镜组件、分光镜、第一光电探测器阵列依次设置在光源组件出射光束光路上,被检测瓶装液体产品设置在光束会聚器件和相衬组件之间的光路上;分光镜的分光面与分光镜入射光束光轴夹角范围为10°~170°;第二光电探测器阵列设置在光源组件出射光束被分光镜反射后的反射光路上;柱面整形器的柱面光轴方向与第一光电探测器阵列的光电传感单元排列方向的交角范围小于30°;第二光电探测器阵列的光电传感单元相对于入射光束的相对排列方向与第一光电探测器阵列的光电传感单元相对于入射光束的相对排列方向的交角范围小于30°;第一光电探测器阵列相对于入射光线主光轴的设置位置与第二光电探测器阵列相对于入射光线主光轴的设置位置存在错位设置。
2、如权利要求1所述的一种相衬技术双探测器异物检测装置,其特征在于:所述的光源组件为非相干光源组件、相干光源组件、非相干光源阵列、相干光源阵列、光纤光源的一种。
3、如权利要求1所述的一种相衬技术双探测器异物检测装置,其特征在于:所所述的成像物镜组件为消色差物镜、复消色差物镜、平场成像物镜、偏振光成像物镜、相称成像物镜的一种。
4、如权利要求1所述的一种相衬技术双探测器异物检测装置,其特征在于:所述的光电探测器阵列为光敏管阵列、光电二极管阵列、电荷耦合器件、互补型金属氧物半导体晶体管、光学微通道板的一种。
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