[实用新型]气体净化冷阱及比表面仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及气体净化装置，特别是涉及一种气体净化冷阱及比表面仪。

背景技术

在低温氮吸附法比表面仪的测试过程中，所使用的高纯吸附质气体和高纯载气的纯度一般为99.995％～99.999％，其中所含的0.001％～0.005％的杂质会对测试准确度造成影响。为了减小目前吸附质气体和载气中的杂质对测试结果的影响，需要对高纯吸附质气体和高纯载气进行净化，但目前没有可以方便的与比表面仪配合实现对高纯吸附质气体和高纯载气进行净化的装置。

实用新型内容

基于上述现有技术所存在的问题，本实用新型实施例提供一种气体净化冷阱及比表面仪，可用在比表面仪中，对高纯吸附质气体和高纯载气进行净化，可减小气体中杂质对测试结构的影响。

本实用新型实施方式是通过下述技术方案实现的：

本实用新型实施例提供一种气体净化冷阱，包括：

冷凝管和液氮杯；

所述液氮杯内设有液氮，所述冷凝管的管体设置在液氮杯的液氮内，冷凝管的一端为进气口，冷凝管的另一端为出气口。

本实用新型实施例还提供一种比表面仪，包括：控制电路和气路，还包括上述的气体净化冷阱；

所述气体净化冷阱，串联设置在该比表面仪样品管前的进气气路中。

通过上述本实用新型实施方式提供的技术方案可以看出，本实用新型实施方式中通过将具有进气口和出气口的冷凝管设置在液氮杯中，形成气体净化冷阱。该气体净化冷阱用在比表面仪中时，串联设置在比表面仪中气体进入样品管的气路中，使通过该冷凝管的气体中的杂质冷凝，从而最大限定的净化进入样品管被测试的气体。

附图说明

图1为本发明实施例提供的气体净化冷阱的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的具有气体净化冷阱的比表面仪的结构示意图。

具体实施方式

为便于理解，下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明。

实施例

本实用新型实施例提供一种气体净化冷阱，可用在比表面仪中，用于对比表面仪样品管的进气进行净化处理，如图1所示，该气体净化冷阱包括：冷凝管和液氮杯；

其中，所述的液氮杯2内盛有液氮3，所述冷凝管1的管体设置在液氮杯2的液氮3内，冷凝管1的一端为进气口A，冷凝管的另一端为出气口B。

上述气体净化冷阱中的冷凝管1采用金属冷凝管或有机冷凝管，冷凝管1的管体为螺旋形结构。

本实施例提供的气体净化冷阱，用在比表面仪中时，串接在比表面仪样品管前的进气管路中，对进入比表面仪样品管的测试气体进行净化，使气体在经过该气体净化冷阱的冷凝管时，在该冷阱的液氮杯中液氮的作用下，冷凝在冷凝管中，从而提高该冷阱出气口排出气体的洁净度，达到净化气体，提高比表面仪测试精度的效果。

本实用新型实施例还提供一种比表面仪，该比表面仪的结构与现有的动态色谱法比表面仪，或静态容量法比表面仪基本相同，主要包括：仪器主机，仪器主机内主要设有电路和气路两部分，电路部分包括电源供电电路、液氮杯升降控制电路、传感器和信号检测采集电路；气路部分包括气源、连接气源与仪器主机的连接管路、气路流量检测显示装置和检测器，仪器主机内设有多个样品管，多个样品管并联设置在气路中，样品管的出气端经管路与检测器连接；不同的是该比表面仪还包括上述的气体净化冷阱，如图2所示，该气体净化冷阱串联设置在该比表面仪样品管31、32、33、34之前的进气气路中，即该气体净化冷阱的冷凝管1的进气口A与进气管路连接，气体净化冷阱冷凝管1的出气口B与样品管31、32、33、34的进气口连接。这样在比表面仪气路中的气体在进入样品管被吸附前的气路中时，先进入到该气体净化冷阱中再进入样品管31、32、33、34，当含有高于气体净化冷阱中的液氮杯2中的液氮3温度沸点的杂质气体流过后，将凝结或吸附在冷凝管1的管壁上，流出的气体中杂质含量将降低，气体纯度将得到提高，气体净化后进入样品管31、32、33、34中，从而提高后续检测器4测试的精度。

综上所述，本实用新型实施例中通过冷凝管和设置液氮的液氮杯配合，形成冷阱，该冷阱使用时设置在比表面仪样品管之前的气路中，对通过气体中高沸点杂质组份进行去除，使进入样品管的气体得到净化，从而提高比表面仪的检测器的测试精度。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。