[实用新型]用于TEM样品制备的手动精密研磨抛光器无效
| 申请号： | 200920109691.3 | 申请日： | 2009-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN201537844U | 公开（公告）日： | 2010-08-04 |
| 发明（设计）人： | 廖昭亮;李琳;陈东敏 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | B24B9/00 | 分类号： | B24B9/00;B24B49/04;G01N1/32 |
| 代理公司： | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 | 代理人： | 尹振启 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 tem 样品 制备 手动 精密 研磨 抛光 | ||
【权利要求书】：
1.一种手动精密研磨抛光器，包括主体部分，宝石球和测微丝杆，宝石球固定设置于主体部分下表面的凹坑中，并且全部的宝石球球顶处在一个与主体部分下表面平行定研磨平面上；测微丝杆设置在主体部分中心的通孔中；使用时，试样可拆卸的固定在测微丝杆的端部。
2.根据权利要求1中所述的手动精密研磨抛光器，其特征在于，所述宝石球数量至少为3个。
3.根据权利要求1中所述的手动精密研磨抛光器，其特征在于，设置宝石球的主体部分下表面的凹坑深度L与宝石球半径r之间的关系为r≥L≥0.5r。
4.根据权利要求1中所述的手动精密研磨抛光器，其特征在于，所述的宝石球通过胶固定在所述的凹坑中。
5.根据权利要求1中所述的手动精密研磨抛光器，其特征在于，所述的宝石球的材质为摩氏硬度大于7以上的材料，优选为SiC。
6.根据权利要求1中所述的手动精密研磨抛光器，其特征在于，所述的手动精密研磨抛光器还包括固定装置，用来固定测微丝杆的杆部，使其在研磨过程中位置固定。
7.根据权利要求1中所述的手动精密研磨抛光器，其特征在于，所述的主体部分，其侧边上设置有沿其圆周均匀分布的螺孔。
8.根据权利要求7中所述的手动精密研磨抛光器，其特征在于，所述固定装置为穿过所述主体部分侧边螺孔的螺钉。
9.根据权利要求7中所述的手动精密研磨抛光器，其特征在于，所述螺孔数量为大于等于3个。
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