[实用新型]用于芯片测试机上的模拟数字混合信号芯片测试卡

说明书

技术领域

本实用新型属于集成电路芯片测试领域，尤其是一种用于芯片测试机上的模拟数字混合信号芯片测试卡。

背景技术

集成电路设计、生产厂家在设计、生产出集成电路芯片后，通常需要使用专用的芯片测试机对集成电路芯片进行测试，以识别坏片并进行标识，为后道工序生产创造条件，只有通过测试的集成电路芯片才能出厂销售，没有通过测试的集成电路芯片则不能出厂。目前，国内集成电路芯片测试主要由集成电路芯片生产厂家自行测试和委托专业测试厂家测试两种模式。由于目前国内芯片生产厂家测试能力不足，专业测试厂家稀缺，使得芯片测试成为部分芯片产品及时投放市场的瓶颈，同时，由于芯片测试技术要求相对较高，成本较大，而专业的芯片设计企业一般不倾向于投资购买昂贵的测试设备，使得性价比高的自主研发的测试机、测试板卡需求应运而生。目前，集成电路芯片的种类繁多，既有输入/输出信号全部为一种类型信号的集成电路芯片，如全数字信号芯片和全模拟信号芯片，也有输入/输出信号为不同信号类型的混合信号集成电路芯片，如输入为数字信号而输出为模拟信号的集成电路芯片，或输入为模拟信号而输出为数字信号的集成电路芯片，但通常芯片测试机很难满足不同类型集成电路芯片测试的需要。由于混合信号芯片同时需要处理数字信号及模拟信号，如对于音频A/D芯片，需要由芯片测试机产生模拟信号以满足被测芯片的模拟信号的输入需要并对其输出的数字信号进行处理，因此，对混合信号芯片进行测试的技术难度相当高。现有的芯片测试机通常只能够对单一类型信号的集成电路芯片进行测试，而不能对混合信号芯片进行有效地测试，而且测试成本昂贵。

发明内容

本实用新型的目地在于克服现有技术的不足，提出一种能够对模拟数字混合芯片提供测试的用于芯片测试机上的模拟数字混合信号芯片测试卡，这种芯片测试卡安装在芯片测试机上能够对输入为模拟信号而输出为数字信号的混合信号芯片进行测试，也可以将其与其他类型的芯片测试卡共同安装在芯片测试机上，实现对多种类型的集成电路芯片的测试功能，具有结构设计合理、测试成本低廉、性价比高的特点。

本实用新型解决其技术问题是采取以下技术方案实现的：

一种用于芯片测试机上的模拟数字混合信号芯片测试卡，由连接有被测芯片载板的芯片测试卡构成，在芯片测试卡上安装有芯片测试电路，所述的芯片测试电路包括系统接口模块、配置芯片、FPGA处理模块及数模转换模块，系统接口模块通过总线与FPGA处理模块相连接，与配置芯片相连接的FPGA处理模块通过数字信号输出端与数模转换模块的输入端相连接，通过控制端与被测芯片载板相连接，数模转换模块的输出端与被测芯片载板的模拟信号输入端相连接，被测芯片载板的数字信号输出端与FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。

而且，所述的FPGA处理模块由一块FPGA芯片构成，所述的数模转换模块由一个数模转换子模块构成。

而且，所述的FPGA处理模块由2～8块FPGA芯片构成，在2～8块FPGA芯片与系统接口模块之间连接一地址译码模块；所述的数模转换模块由2～8个数模转换子模块构成。

而且，所述的FPGA芯片内置有FPGA接口模块、周期信号发生器、存储器控制模块、存储器地址生成模块、存储器、采样控制模块、被测芯片控制模块，系统数据通过FPGA接口模块分别与周期信号发生器及采样控制模块的输入端相连接，周期信号发生器还分别与外部时钟及测试卡系统时钟相连接，周期信号发生器的输出端分别连接到存储器控制模块、存储器地址生成模块、采样控制模块上，存储器控制模块的输出端与存储器地址生成模块相连接，存储器地址生成模块的输出端分别与第一存储器、第二存储器、第三存储器及第四存储器相连接，第二存储器、第三存储器以及第四存储器分别输出相位信号、高十位数字信号及低十位数字信号，并分别连接到第一存储器的输入端，采样控制模块的输出端、测试卡系统时钟分别连接到被测芯片控制模块的输入端上，被测芯片控制模块的控制端及数据输入端分别与被测芯片载板相连接，被测芯片控制模块的数据输出端与第五存储器模块相连接。