[实用新型]光盘厚度测量仪有效

专利信息
申请号: 200920073295.X 申请日: 2009-06-02
公开(公告)号: CN201413120Y 公开(公告)日: 2010-02-24
发明(设计)人: 丁强;朱磊磊 申请(专利权)人: 上海新索音乐有限公司
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 代理人: 俞宗耀
地址: 201600*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 光盘 厚度 测量仪
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种厚度测量工具,具体涉及用于光盘厚度测量的测量仪。

背景技术

在计算机科技日新月异,不断进步的时代,许多计算机中的资料在使用过程中或作业完成时,均需要将资料做存储,而存储计算机的资料的方式,以前均使用1.44”或者3.5”的磁盘片来存储,但是磁盘片有不易保存,容量有限的缺陷。较大容量的应用程序软件就需要许多张磁盘来分开存储,成本高,存放的磁盘片制作要求高,成本大。由于光盘(又称为碟片)可存入大量的资料或者多媒体内容,同时保存也相对容易,所以近年来光盘生产业,用光盘来存储资料获得了较大的发展。

由于光盘是一张直径约为120mm的薄圆盘,光盘厚度的均一性,将影响到光驱或其他播放器能不能以正常的速度读取光盘并播放。为了保证光盘的质量,所以质量检查时有必要精确测量光盘各点位的厚度。现有的测量方法是使用游标卡尺手工测量光盘的厚度。该方法有以下不足:(1)用游标卡尺只能测量光盘最外圈的厚度,不能测量光盘内部区域和中部区域的厚度,不能考察整个光盘厚度的均一性。(2)由于光盘是一张薄圆盘,游标卡尺的卡口测量光盘碟片时,与光盘表面接触点过多,不能精确表示光盘某个点的厚度,同时也不能测量光盘厚度的变化趋势。

实用新型内容

本实用新型的目的在于:提供一种结构简单、坚固耐用、成本低的光盘厚度测量仪,可以方便快速精确测量各种光盘的厚度,并且可以随意调节测量点位。

为了达到上述目的,采用的技术方案是:一种光盘的厚度测量仪,包括测量底座、测量臂和精密高度表,其特征在于:所述测量底座呈L形,光盘中心孔固定柱与所述测量底座水平端的端部固定连接,测量臂的一端置于所述测量底座垂直端的水平向孔中,并可前后移动调节,所述测量臂的另一端与垂直向的精密高度表固定连接。

本实用新型光盘厚度测量仪具有下列优点:结构简单、操作非常方便,测量员只需将待测量光盘中心孔套在固定柱上,然后即可通过旋转光盘和前后移动调节所述测量臂,测量各个点位的光盘厚度;测得的厚度读数直接显示在精密高度表的数字显示屏上,操作读数都很方便,工作效率高。

附图说明

图1为本实用新型使用状态结构示意图;

图2为图1的A向结构示意图。

图中,1-光盘;2-光盘中心孔固定柱;3-测量底座;4-孔;5-测量臂;6-高度表。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步说明。

由图1、2可见,一种光盘的厚度测量仪,包括测量底座3、测量臂5和精密高度表6,其特征在于:所述测量底座3呈L形,光盘中心孔固定柱2与所述测量底座3水平端的端部固定连接,测量臂5的一端置于所述测量底座3垂直端的水平向孔4中,并可前后移动调节,所述测量臂5的另一端与垂直向的精密高度表6固定连接。

使用时:测试人员打开精密高度表6电源开关,确认精密高度表6的探头轻压在测量底座3的上表面上后,按零设置零位。将待测厚度的光盘1套在光盘中心孔固定柱2上,精密高度表6的探头压在光盘1表面,这时读得的精密高度表6的数值即为在精密高度表6探头处光盘1的厚度值。然后,可通过旋转光盘1,测量在高度表6的探头所在半径上,该光盘1各个点位的厚度值。或通过调节测量臂5伸出长度,测量不同半径上光盘1的厚度值。

本光盘厚度测量仪也适用于不同类型的光盘,只需调节测量臂5的长度即可。

本实用新型为不锈钢材质经精密加工而成,纯机械结构,成本低、维护保养简单,而且坚固耐用、不易损坏。质量监控人员可方便快速确认光盘的厚度分布,从而可根据测量结果迅速调节设备的运行状态。

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