[实用新型]一种耐电压测试仪校准装置无效
| 申请号: | 200920073148.2 | 申请日: | 2009-05-31 |
| 公开(公告)号: | CN201489102U | 公开(公告)日: | 2010-05-26 |
| 发明(设计)人: | 程云斌;翁史昱;厉旻;韩乙旻;刘双喜 | 申请(专利权)人: | 上海市质量监督检验技术研究院 |
| 主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;G01R31/12 |
| 代理公司: | 上海世贸专利代理有限责任公司 31128 | 代理人: | 李浩东;陈颖洁 |
| 地址: | 200020 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 电压 测试仪 校准 装置 | ||
技术领域:
本实用新型涉及一种耐电压测试仪,具体涉及一种耐电压测试仪校准装置。
背景技术:
耐电压测试仪又叫电气绝缘强度试验仪或叫介质强度测试仪。是国家强制性认证即(CCC)认证中的耐电压试验的主要设备。耐电压测试仪的准确与否,对电器设备的安全性具有重大意义,因此需要设计一种耐电压测试仪校准装置。
发明内容:
本实用新型的目的在于提供一种耐电压测试仪校准装置,能够解决上述问题。
为了实现上述目的,本实用新型的技术方案是:一种耐电压测试仪校准装置,包括输入端继电器模块,其特征在于输入端继电器模块的输出端与电子负载模块的输入端连接,电子负载模块的输出端与真有效值转换模块的第一输入端连接,输入端继电器模块的输出端还与电阻分压模块的输入端连接,电阻分压模块的输出端与真有效值转换模块的第二输入端连接,真有效值的输出端与AD转换模块的输入端连接,AD转换模块的输出端与ARM控制芯片的第一输入端连接,ARM控制芯片的第一输出端与电子负载模块的反馈端连接,该耐电压测试仪校准装置还包括高压驻留时间检测模块,该高压驻留时间检测模块的输入端与输入端继电器模块的输出端连接,高压驻留时间检测模块的输出端与ARM控制芯片的第二输入端连接,ARM控制芯片的第二输出端与输入端继电器模块的控制端连接,ARM控制芯片的第三输出端与触摸屏连接。ARM控制芯片的第四输出端与外部计算机连接。ARM控制芯片的第一输出端通过Con_AC模块与电子负载模块的反馈端连接。
电流输入端输入的交流信号经过电子负载模块调节电流后,经过真有效值转换模块转换成电流直流信号,电压信号则经分压后直接经过真有效值转换成电压直流信号。电流直流信号和电压直流信号经AD转换模块转换成数字信号,进入ARM控制芯片,控制芯片将设定的电流值反馈给电子负载以调节击穿报警电流输入的大小。高压驻留时间检测模块,可以将整个电路的时间测量误差控制在ms级。控制芯片将经过处理的信号送至触摸屏和计算机进行显示。触摸屏和计算机上设有对应的数字键,功能键,复位键,通信键和其他按键。ARM控制芯片可以控制输入端继电器模块进行切换,从而切换成不同的测量模式。ARM控制芯片将经过测量结果送至触摸屏显示。本实用新型的优点在于能够实现耐电压测试仪的自动测量,提高工作效率,减少工作时间。本校准装置替代了传统校准工作中的多套设备和仪器,方便携带,有利于在线检测。
附图说明:
图1为本实用新型的工作原理图
图2为测量电流的原理框图
图3为测量电压的原理框图
图4为高压驻留时间检测模块的电路图
图5为电阻分压模块的电路图
图6为电子负载电路的电路图
图7为AD转换模块的电路图
图8为真有效值转换模块的电路图
图9为Con_AC模块电路图
具体实施方式:
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的描述。
如图1所示,一种耐电压测试仪校准装置1,包括输入端继电器模块2,该输入端继电器模块2的输入端与耐电压测试仪输出端3连接,其特征在于输入端继电器模块2的第一输出端与电子负载模块4的输入端连接,电子负载模块4的输出端与真有效值转换模块7的第一输入端连接,输入端继电器模块2的第二输出端还与电阻分压模块5的输入端连接,电阻分压模块5的输出端与真有效值转换模块7的第二输入端连接,真有效值的输出端7与AD转换模块8的输入端连接,AD转换模块8的输出端与ARM控制芯片9的第一输入端连接,ARM控制芯片9的第一输出端与电子负载模块4的反馈端连接,该耐电压测试仪校准装置还包括高压驻留时间检测模块6,该高压驻留时间检测模块6的输入端与输入端继电器模块2的第三输出端连接,高压驻留时间检测模块2的输出端与ARM控制芯片9的第二输入端连接,ARM控制芯片9的第二输出端与输入端继电器模块2的控制端连接,ARM控制芯片9的第三输出端与触摸屏10连接。ARM控制芯片9的第四输出端与外部计算机11连接。ARM控制芯片的第一输出端通过Con_AC模块与电子负载模块的反馈端连接。
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