[实用新型]一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置无效
申请号: | 200920031640.3 | 申请日: | 2009-01-08 |
公开(公告)号: | CN201408007Y | 公开(公告)日: | 2010-02-17 |
发明(设计)人: | 吴易明;高立民;胡晓东;赵军丽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01C15/10 | 分类号: | G01C15/10 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 | 代理人: | 康 凯 |
地址: | 710119陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 直角 反射 棱镜 平面 铅垂度 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种法平面铅垂度检测装置,具体涉及一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置。
背景技术
在精密测试计量技术领域,直角反射棱镜的应用非常广泛,然而在应用过程中,由于其法平面的不铅垂,对测量误差产生重要影响,从而影响了测量精度。
目前,直角反射棱镜在安装过程中,其法平面铅垂度是一个重要参数,现阶段主要使用自准直经纬仪对其法平面铅垂度进行测量。该方法的实现,一种是使用一台自准直经纬仪,要先后通过平瞄与仰瞄两次测量得到测量结果;另一种是使用两台自准直经纬仪,分别同时进行平瞄与仰瞄测量。但以上两种方法均存在测量次数多,测量过程烦琐,且两次测量存在方位误差,以及自准直经纬仪自身的测量误差,使得测量误差加大,大大降低了测量精度。因此,目前没有理想的方法或者测量装置实现法平面铅垂度的准确测量。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置,其解决了背景技术中无法实现法平面铅垂度准确测量的技术问题。
本实用新型的技术解决方案是:
一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置,包括底座11以及设置于底座11上的竖轴及码盘10,所述竖轴及码盘10与U型架9连接,所述U型架9可绕竖轴及码盘10在水平面内旋转,所述U型架9的上端连接一横轴8,
其特殊之处在于:还包括设置于横轴8上的斜方棱镜2,以斜方棱镜2的中心为坐标原点,建立坐标系OXYZ,所述横轴8与斜方棱镜2的Z轴同轴心,并能带动斜方棱镜2绕Z轴单方向旋转22.5°;所述斜方棱镜2的两侧分别设置自准直仪1和直角反射棱镜3,自准直仪1发出光线经斜方棱镜2和直角反射棱镜3后,又能回到自准直经纬仪1;所述U型架9的底部还设置有实现斜方棱镜2水平调整的水泡12。
上述斜方棱镜2包括在其上镀有反射膜的前表面部分6和镀有增透膜的下表面7。
上述U型架9的底部位于竖轴及码盘10一侧设置有实现斜方棱镜2水平调整的水泡12。
上述斜方棱镜2的前表面部分6镀的反射膜反射率为5%~50%。
上述斜方棱镜2的前表面部分6镀的反射膜反射率以10%~20%为佳。
上述斜方棱镜2为特级K9玻璃的斜方棱镜。
本实用新型中提供的直角反射棱镜法平面铅垂度检测仪,由于其采用单次测量方法,避免了两次测量引入的方位误差,其测量精度可以控制在8″以内,同时具有测量原理简单,操作容易等优点。本实用新型可用于直角反射棱镜装调过程中法平面铅垂度的检测。
附图说明
图1为本实用新型的装置示意图;
图2为本实用新型的原理示意图。
附图标号说明:1-自准直仪;2-斜方棱镜;3-直角反射棱镜;4-第二状态;5-第三状态;6-前表面部分;7-下表面;8-横轴;9-U型架;10-竖轴及码盘;11-底座;12-水泡。
具体实施方式
如图1及图2,一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置,包括底座11以及设置于底座11上的竖轴及码盘10,竖轴及码盘10与U型架9连接,所述U型架可绕竖轴及码盘10在水平面内旋转,U型架的上端连接一横轴8,还包括设置于横轴8上的斜方棱镜2,以斜方棱镜2的中心为坐标原点,建立坐标系OXYZ,所述横轴8与斜方棱镜2的Z轴同轴心,并能带动斜方棱镜2绕Z轴单方向旋转22.5°;斜方棱镜2的两侧分别设置自准直仪1和直角反射棱镜3,自准直仪1发出光线经斜方棱镜2和直角反射棱镜3后,又能回到自准直仪1;U型架9的底部位于竖轴及码盘10一侧设置有实现斜方棱镜2水平调整的水泡12;其中斜方棱镜2包括在其上镀有反射率为5%~50%反射膜的前表面部分6和镀有增透膜的下表面7。其中反射膜的反射率以10%~20%为佳。
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