[发明专利]电子装置测试系统无效
| 申请号: | 200910312544.0 | 申请日: | 2009-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN102110037A | 公开(公告)日: | 2011-06-29 |
| 发明(设计)人: | 刘清华 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电子 装置 测试 系统 | ||
1.一种电子装置测试系统,用于测试一电子装置,所述电子装置包括一嵌入式控制器,其特征在于:所述系统包括一数据模块及一应用模块,所述数据模块接收一与所述嵌入式控制器相对应的型号信息,并将所述型号信息传送到所述应用模块,所述应用模块包括一解析子模块解析所述型号信息并获得与所述型号信息对应的查询命令信息,所述应用模块将所述查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的信息,所述嵌入式控制器向所述应用模块返回一测试结果,所述应用模块将所述测试结果与一标准结果进行比对生成一测试报告,用以完成对所述电子装置的测试。
2.如权利要求1所述的电子装置测试系统,其特征在于:所述电子装置测试系统还包括一驱动模块,所述应用模块向所述驱动模块发送所述查询命令信息,所述驱动模块将所述查询命令信息转化成所述嵌入式控制器能够识别的查询命令并发送给所述嵌入式控制器。
3.如权利要求2所述的电子装置测试系统,其特征在于:所述驱动模块根据所述查询命令读写所述嵌入式控制器的一输入输出端与一内存信息其中之一。
4.如权利要求1所述的电子装置测试系统,其特征在于:所述嵌入式控制器命令包括一用以写入所述嵌入式控制器中的信息的嵌入式控制器扩展命令。
5.如权利要求1所述的电子装置测试系统,其特征在于:所述电子装置测试系统还包括一用以识别所述嵌入式控制器的型号信息的识别模块,所述识别模块将所述型号信息发送给所述数据模块以发送相应的嵌入式控制器命令。
6.如权利要求1所述的电子装置测试系统,其特征在于:所述查询命令信息为一电源查询命令信息,所述应用模块将所述电源查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的电源信息。
7.如权利要求1所述的电子装置测试系统,其特征在于:所述查询命令信息为一中央处理器查询命令信息,所述应用模块将所述中央处理器查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的中央处理器信息。
8.如权利要求1所述的电子装置测试系统,其特征在于:所述查询命令信息为一风扇转速查询命令信息,所述应用模块将所述风扇转速查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的风扇转速信息。
9.如权利要求1所述的电子装置测试系统,其特征在于:所述查询命令信息为一电池温度查询命令信息,所述应用模块将所述电池温度查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的电池温度信息。
10.如权利要求1所述的电子装置测试系统,其特征在于:所述查询命令信息为一寄存器查询命令信息,所述应用模块将所述寄存器查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的寄存器信息。
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