[发明专利]测云仪发射器位置的调试装置及调试方法有效

专利信息
申请号: 200910304968.2 申请日: 2009-07-29
公开(公告)号: CN101625423A 公开(公告)日: 2010-01-13
发明(设计)人: 滕军;肖巧景;佟增亮 申请(专利权)人: 凯迈(洛阳)测控有限公司
主分类号: G01W1/18 分类号: G01W1/18
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司 代理人: 陈 浩
地址: 471009*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 测云仪 发射器 位置 调试 装置 方法
【权利要求书】:

1.测云仪发射器位置的调试装置,该装置包括测云仪,所述测云仪内设有发射器和透镜,其特征在于,该装置还包括依次设于透镜光轴线上且与光轴垂直设置的调试板和成像板,所述调试板上相应透镜通光口径位置以内设有至少两个孔,所述成像板上画有形状、数量、相对位置都与调试板上的孔相同的孔;所述的成像板为可移动成像板。

2.根据权利要求1所述的测云仪发射器位置的调试装置,其特征在于:所述成像板上对应透镜位置,以透镜光心为原点,分别以经过原点的水平线和垂直线作为二维坐标轴,并在该坐标轴上标注坐标。

3.根据权利要求1或2所述的测云仪发射器位置的调试装置,其特征在于:所述调试板上的孔为两个以透镜光轴为对称轴的相对称的孔。

4.根据权利要求1或2所述的测云仪发射器位置的调试装置,其特征在于:所述调试板上的孔为三个孔,该三个孔在一条直线上,且中间的一个孔的中心在透镜轴线上。

5.应用权利要求1所述的调试装置的调试方法,其特征在于,该方法的步骤如下:

(1)将发射器置于透镜焦点的理论位置,使发射器发射光束:

(2)待光束经透镜穿过调试板上孔的光线在成像板上呈现光斑后,移动成像板,使不同孔的光斑尽可能落在成像板上对应位置的孔处;

(3)依据光斑落在成像板上坐标的相对位置来上下左右调试发射器的位置,使不同孔的光斑分别与成像板上对应孔的中心位置重合,且光斑最小,此时发射器处于透镜的焦点位置上,也即是测云仪发射器放置的最佳位置。

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