[发明专利]时钟信号测试装置及测试方法无效
申请号: | 200910302954.7 | 申请日: | 2009-06-05 |
公开(公告)号: | CN101908012A | 公开(公告)日: | 2010-12-08 |
发明(设计)人: | 王鼎中 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/267 | 分类号: | G06F11/267 |
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地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 时钟 信号 测试 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种测试装置及测试方法,特别涉及一种时钟信号测试装置及测试方法。
背景技术
实时时钟(Real-time clock,RTC)芯片是一种能够提供日历、时钟等功能的专用集成电路,常常用作电脑系统的时钟信号源。RTC芯片须有一时钟脉冲信号输入,并利用此时钟脉冲信号作为计算时间的基础,所述时钟脉冲信号通常是由一石英晶体振荡器电路产生的,但有时由于石英晶体振荡器电路的是设计问题或其他原因,导致所述石英晶体振荡器电路产生的时钟脉冲信号不够精准,导致RTC芯片的计时存在误差,从而使电脑的系统时间不准确。
发明内容
鉴于上述内容,有必要提供一种可对电脑的系统时间进行测试的时钟信号测试装置及测试方法。
一种时钟信号测试装置,用于对一待测电脑系统的系统时间进行测试,所述时钟信号测试装置包括:
一频率产生器,用于产生一时钟脉冲信号;
一RTC芯片,用于接收所述时钟脉冲信号,并提供一准确的时间信号;及
一微处理器,用于接收所述待测电脑系统发出的一测试命令信号,以将所述待测电脑系统当前的系统时间传输给所述RTC芯片,并使所述RTC芯片的时间与所述系统时间相同,还用于在一测试时间段后接收所述待测电脑系统发出一对时命令信号,以将所述RTC芯片的当前时间传输给所述待测电脑系统。
一种时钟信号测试方法,用于对一待测电脑系统的系统时间进行测试,所述时钟信号测试方法包括:
所述待测电脑系统向一微处理器发出一测试命令信号,同时将所述待测电脑系统当前的系统时间T1记录下来;
所述微处理器根据所述测试命令信号将所述系统时间T1传输给一RTC芯片,并使所述RTC芯片的时间与所述系统时间T1相同;
经过一测试时间段后,所述待测电脑系统发出一对时命令信号给所述微处理器,同时将当前的系统时间T2记录下来;
所述微处理器接收到所述对时命令信号后读取所述RTC芯片的当前时间T3,并将所述RTC芯片的当前时间T3传输给所述待测电脑系统;及
所述待测电脑系统根据上述时间T1、T2及T3计算所述待测电脑系统内部系统时间的误差M,即:M=[(T2-T3)/(T3-T1)]。
上述时钟信号测试装置及方法,通过所述频率产生器为所述RTC芯片提供一准确地频率,以使所述RTC芯片进行准确的计时,所述微处理器控制所述RTC芯片的时间与所述待测电脑系统的系统时间T1相同,并在一测试时间段后分别读取所述待测电脑系统的当前时间T2与所述RTC芯片的当前时间T3,并根据上述三个时间T1、T2及T3即可所述待测电脑系统内部系统时间的误差M=[(T2-T3)/(T3-T1)],十分方便。
附图说明
下面参照附图结合具体实施方式对本发明作进一步的描述。
图1为本发明时钟信号测试装置较佳实施方式连接一电脑系统的原理框图。
图2为本发明时钟信号测试方法较佳实施方式的流程图。
具体实施方式
请参照图1,本发明时钟信号测试装置10用于对一待测电脑系统20的系统时间进行测试,所述时钟信号测试装置10的较佳实施方式包括一频率产生器12、一除频器14、一RTC芯片16及一微处理器如一单片机18。
所述频率产生器12用于产生一时钟脉冲信号。所述除频器14用于接收所述时钟脉冲信号,并对所述时钟脉冲信号的频率进行相应的调整,以符合所述RTC芯片16的要求。所述RTC芯片16用于接收经所述除频器14调整后的时钟脉冲信号,并提供一准确的时间信号给所述单片机18。其他实施方式中,如果所述频率产生器12产生的时钟脉冲信号刚好符合所述RTC芯片16的要求,则可删除所述除频器14,直接将所述频率产生器12与所述RTC芯片16相连即可。
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