[发明专利]磁场测量系统及测量磁场的方法无效
| 申请号: | 200910302545.7 | 申请日: | 2009-05-22 |
| 公开(公告)号: | CN101566676A | 公开(公告)日: | 2009-10-28 |
| 发明(设计)人: | 余金涛 | 申请(专利权)人: | 深圳市科陆电子科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02 |
| 代理公司: | 深圳市科吉华烽知识产权事务所 | 代理人: | 胡吉科 |
| 地址: | 518057广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 磁场 测量 系统 方法 | ||
1.一种磁场测量系统,包括:测量磁场的磁场感应组件、对磁场感应组件感应的磁场信号进行采集的信号采集组件、对所述信号采集组件采集的信号进行处理的信号处理模块,其特征在于,所述磁场感应组件包括第一线圈、第二线圈、第三线圈,所述第一线圈、第二线圈、第三线圈成“品”字形且三个线圈的中心线相互垂直地放置,所述第一线圈、第二线圈及第三线圈连接至一公共端,所述信号采集组件也包括分别与所述线圈对应连接的第一信号采集组件、第二信号采集组件、第三信号采集组件。
2.根据权利要求1所述的磁场测量系统,其特征在于,所述第一线圈为立式线圈,所述第二线圈和所述第三线圈为卧式线圈。
3.根据权利要求1所述的磁场测量系统,其特征在于,所述信号处理模块包括信号校准单元和信号处理单元。
4.根据权利要求1所述的磁场测量系统,其特征在于,还包括磁场校正单元,所述磁场校正单元通过在两个点测量的数值对公式T=KV+B中K、B两个参数进行校正,其中T表示磁感应强度,V表示磁感应电压,K、B为参数。
5.根据权利要求1所述的磁场测量系统,其特征在于,所述信号处理模块包括信号放大单元,将采集到的磁场信号进行放大。
6.根据权利要求5所述的磁场测量系统,其特征在于,所述信号放大单元包括放大采集的磁场信号的第一信号放大单元以及放大所述第一信号放大单元放大的信号的第二信号放大单元。
7.一种应用权利要求1磁场测量系统测量磁场的方法,包括如下步骤:
设置磁场测量组件:将所述第一线圈、第二线圈、第三线圈成“品”字形且三个线圈的中心线相互垂直地放置,将所述第一信号采集组件、第二信号采集组件和第三信号采集组件分别对应与对应线圈连接,将信号采集组件与信号处理模块连接;
采集磁场信号:所述信号采集组件分别同时采集对应的磁场线圈的磁场信号;
处理磁场信号:由信号处理模块处理采集磁场信号步骤采集的磁场信号。
8.根据权利要求7所述测量磁场的方法,其特征在于,所述处理磁场信号步骤处理磁场信号,包括磁场信号放大过程。
9.根据权利要求8所述测量磁场的方法,其特征在于,所述磁场信号放大过程包括磁场信号的第一级放大和第二级放大。
10.根据权利要求7所述测量磁场的方法,其特征在于,所述处理磁场信号步骤处理磁场信号还包括磁场校正步骤,即通过在两个点测量的数值对公式T=KV+B中K、B两个参数进行校正。
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