[发明专利]背照式图像传感器及其制造方法无效
申请号: | 200910262162.1 | 申请日: | 2009-12-25 |
公开(公告)号: | CN101771059A | 公开(公告)日: | 2010-07-07 |
发明(设计)人: | 金文焕 | 申请(专利权)人: | 东部高科股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H04N5/335 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 姜燕;邢雪红 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 背照式 图像传感器 及其 制造 方法 | ||
1.一种背照式图像传感器,包括:
隔离区和像素区,位于第一衬底的前侧;
光电探测器和读出电路,位于所述像素区上;
层间介电层和金属线,位于所述第一衬底的前侧;
第二衬底,被接合到形成有所述金属线的所述第一衬底的前侧;
像素分隔离子注入层,在所述第一衬底的背侧位于所述隔离区上;以及
微透镜,在所述第一衬底的背侧位于所述光电探测器上。
2.如权利要求1所述的背照式图像传感器,其中所述像素分隔离子注入层包括P型离子注入区。
3.如权利要求1所述的背照式图像传感器,还包括焊盘,位于所述第一衬底的前侧,所述焊盘通过所述第一衬底的背侧而露出。
4.如权利要求1所述的背照式图像传感器,还包括绝缘层,介于所述第一衬底的前侧与所述第二衬底之间。
5.一种制造背照式图像传感器的方法,所述方法包括以下步骤:
通过在第一衬底的前侧的整个区域上方注入离子,形成离子注入层;
通过在所述第一衬底的前侧形成隔离区,限定像素区;
在所述像素区上形成光电探测器和读出电路;
在所述第一衬底的前侧形成层间介电层和金属线;
将第二衬底接合到形成有所述金属线的所述第一衬底的前侧;
去除由所述离子注入层限定的所述第一衬底的下部;
在去除所述第一衬底的下部之后,在所述第一衬底的背侧于所述隔离区上形成像素分隔离子注入层;以及
在所述第一衬底的背侧于所述光电探测器上形成微透镜。
6.如权利要求5所述的方法,其中形成像素分隔离子注入层的步骤包括:将离子注入所述第一衬底的背侧中,使得所述像素分隔离子注入层从所述第一衬底的背侧的表面延伸到所述隔离区。
7.如权利要求5所述的方法,其中形成像素分隔离子注入层的步骤包括:在所述隔离区上形成P型离子注入区。
8.如权利要求5所述的方法,其中形成离子注入层的步骤包括:注入氢离子或氦离子。
9.如权利要求5所述的方法,其中形成离子注入层的步骤通过所述第一衬底的前侧注入离子,使得所述离子注入层以预定深度形成在所述第一衬底的前侧的整个区域上方。
10.如权利要求5所述的方法,其中去除所述第一衬底的下部的步骤包括:通过使用所述离子注入层,在所述第一衬底的与所述第一衬底的前侧相对的一侧去除所述第一衬底的一部分。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的