[发明专利]一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法

权利要求书

1.本发明的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法，其特征在于：

1)安装石英晶体微量天平系统和热控样品台系统，其视角为180°；将石英晶体微量天平中的石英晶片置于真空室内，在石英晶体微量天平的可视范围内，放置非金属材料，使其在真空条件下出气；

2)调整分光光度计，使分光光度计中光束通过石英晶体微量天平中的石英晶片，原位测量石英晶片的反射率；

3)启动真空系统，使真空仓在分子流状态下工作；

4)通过石英晶体微量天平控制系统调整石英晶体微量天平零点；

5)加热非金属材料，使污染物逸出；

6)启动分光光度计，分光光度计原位测量石英晶片的反射率，保存各种参数及数据记录；

7)在线原位监测石英晶体微量天平的各种参数，主要包括频率和温度，保存各种参数及数据记录；

8)关闭石英晶体微量天平测试系统，关闭热控样品台系统，关闭分光光度计，关闭真空系统，回复试验设备至初始状态。

2.根据权利要求1所述的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法，其特征在于：步骤1)中石英晶体微量天平的本征频率为10MHz、15MHz、20MHz或更高频率；真空室真空度小于1×10^-3Pa。

3.根据权利要求1所述的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法，其特征在于：步骤2)中分光光度计调整为光学样品的入射角为45°。

4.根据权利要求1所述的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法，其特征在于：步骤3)中真空系统为无油真空系统，真空泵按顺序启动冷阱、机械泵和分子泵；启动分子泵前真空度小于1×10^-1Pa，真空系统的真空度小于1×10^-3Pa，30分钟后，再开启调整石英晶体微量天平零点。

5.根据权利要求1所述的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法，其特征在于：步骤5)中加热非金属材料的温度为125℃，时间为24～48h。

6.根据权利要求1所述的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法，其特征在于：步骤6)中分光光度计原位测量光学样片的反射率为200～2000nm的光谱段。

7.根据权利要求1所述的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法，其特征在于：步骤7)中石英晶体微量天平频率和温度监测数据速率大于1次/min。

8.根据权利要求1所述的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法，其特征在于：步骤8)中按顺序关闭石英晶体微量天平测试系统、热控样品台系统、真空系统。