[发明专利]用于产生在任意能谱的计算层析术图像的正投影

权利要求书

1.一种用于重建对象在任意能谱的计算层析术图像的方法，所述方法包括步骤：

在第一能谱进行第一计算层析术扫描；

在第二能谱进行第二计算层析术扫描；

对所述第一和第二计算层析术扫描执行基本材料分解，以获得第一基本材料和第二基本材料的线性衰减特性；和

通过所述材料基本图像或基本材料密度投影来正投影，以产生在任意能谱的新投影，其基于：

所述第一基本材料和第二基本材料的线性衰减特性；和

所述任意能谱

其中所述正投影步骤产生在所述任意能级所投影的合成的材料密度图像。

2.如权利要求1的方法，其中，在任意能谱的所述计算层析术图像的材料密度图像的重建在投影空间中进行而无需产生基于所述第一能谱和第二能谱的材料密度图像。

3.如权利要求1的方法，其中，所述任意能谱与所述第一能谱和第二能谱不同。

4.如权利要求1的方法，其中，所述第一能级是低能级，和所述第二能级是高能级。

5.如权利要求1的方法，其中，所述第一能级是80kVp。

6.如权利要求5的方法，其中，所述第二能级是140kVp。

7.如权利要求1的方法，其中，所述第一或第二材料至少其中之一是水。

8.如权利要求1的方法，其中，所述第一或第二材料至少其中之一是碘。

9.如权利要求1的方法，其中，所述第一或第二材料至少其中之一是钙。

10.如权利要求1的方法，其进一步包括基于双能量扫描产生至少一个材料密度图像或单色图像的步骤，其中，所述基本材料的线性衰减特性从所述至少一个材料密度图像或单色图像中获得。

11.一种用于基于对象的双能量扫描来确定第一基本材料和第二基本材料对于任意能级在探测器处的衰减水平的方法，其包括采用计算机(210)以操作以下步骤：

分解所扫描的对象为第一基本材料和第二基本材料，以确定所述第一基本材料和第二基本材料的线性衰减特性；

基于在第一对象位置的所述第一和第二基本材料的线性衰减特性、所述第一和第二基本材料的密度和所述任意能谱，来产生对于所述任意能谱在第一对象位置的所述探测器处的模拟衰减水平。

12.如权利要求11的方法，其进一步包括基于在第二对象位置的所述第一和第二基本材料的线性衰减特性、所述第一和第二基本材料的密度和所述任意能谱，来产生对于所述任意能谱在第二对象位置的所述探测器处的模拟衰减水平的步骤，以及。

13.如权利要求11的方法，其中，至少一个bowtie滤波器用在所述双能量扫描中，所述方法进一步包括确定探测器处所述bowtie滤波器的材料衰减的步骤。

14.如权利要求11的方法，其进一步包括通过应用合成水扫描、校正对于在所述第一位置的所述第一和第二材料的探测器处的模拟衰减水平的步骤。

15.如权利要求11的方法，其中，所述任意能级是单色能级。