[发明专利]修补结构以及主动元件阵列基板

说明书

技术领域

本发明是有关于一种修补结构，且特别是有关于一种能达到良好修补效果的修补结构、以及具有此修补结构的主动元件阵列基板。

背景技术

在制造液晶显示器的主动元件阵列基板的过程之中，难免会产生一些瑕疵(defects)。若直接丢弃这些具有瑕疵的主动元件阵列基板，则会使得制造成本大幅增加。一般而言，这些瑕疵可藉由阵列测试(array test)检测出，并可经由激光熔接(laser welding)或激光切割(laser cutting)等修补技术来进行修复。

图1A为中国台湾专利公告号第583767号的修补结构的示意图。请参照图1A，在此修补结构100中，数据线110对应于扫描线120上方的区域具有多个分岔的分支配线110a、110b。当扫描配线与信号配线之间发生短路的情况时，可藉由将部份分支配线切除的方式进行修补。当扫描线120与数据线110之间发生短路，可透过将部份分支配线110b切除的方式进行修补。然而，上述方式无法修复扫描线120产生断线的情形。

图1B为中国台湾专利公告号第I282625号的修补结构的示意图。请参照图1B，修补结构150包括：导电图案151、152以及透明电极153，其中，导电图案151、152分别连接到线段140A、140B。如图1B所示，当扫描线(由线段140A、140B及140C所构成)与数据线130之间发生短路时，可切断线段140C与线段140A、140B的连接，并利用激光熔接的方式使透明电极153在连接点154、155处与导电图案151、152电性相连，也就是说，利用透明电极153来电性连接线段140A及140B，而避开短路的线段140C。然而，上述的修补方式有以下的问题：首先，若数据线在交错处产生断线，则无法修复。接着，透明电极153的材质为铟锡氧化物，其电阻率较高，因此当信号通过透明电极153后会产生信号失真的情形。此外，透明电极153的硬度较低且厚度较薄，所以较不能承受激光的照射，修补效果差。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种修补结构，可有效地修补扫描线与数据线在交错位置的电性失效处。

本发明还提供一种主动元件阵列基板，具有上述的修补结构，可提升主动元件阵列基板的制作良率。

基于上述，本发明提出一种修补结构，用以修补扫描线或数据线上的电性失效处，其中扫描线与数据线彼此交错且彼此电性绝缘，且修补结构围绕扫描线与数据线的交错处。修补结构包括：第一修补线及第二修补线。第一修补线垂直于扫描线，且第一修补线与扫描线为同一膜层。第二修补线垂直于数据线，且第二修补线与数据线为同一膜层。当修补数据线上的电性失效处时，使第一修补线与扫描线彼此电性绝缘，且使第一修补线与数据线进行跳层连接而构成第一导电路径。当修补扫描线上的电性失效处时，使第二修补线与数据线彼此电性绝缘，且使第二修补线与扫描线进行跳层连接而构成第二导电路径。

本发明还提出一种主动元件阵列基板，包括：扫描线、数据线、修补结构及主动元件。扫描线与数据线彼此交错且彼此电性绝缘。修补结构用以修补扫描线或数据线上的电性失效处，且修补结构围绕扫描线与数据线的交错处。修补结构包括：第一修补线及第二修补线。第一修补线垂直于扫描线，且第一修补线与扫描线为同一膜层。第二修补线垂直于数据线，第二修补线与数据线为同一膜层。当修补数据线上的电性失效处时，使第一修补线与扫描线彼此电性绝缘，且使第一修补线与数据线进行跳层连接而构成第一导电路径。当修补扫描线上的电性失效处时，使第二修补线与数据线彼此电性绝缘，且使第二修补线与扫描线进行跳层连接而构成第二导电路径。主动元件电性连接到对应的扫描线与数据线。

在本发明的一实施例中，上述的第一导电路径与数据线平行、且位于数据线的右方侧，第二导电路径与扫描线平行、且位于扫描线的下方侧。

在本发明的一实施例中，上述的第一导电路径与数据线平行、且位于数据线的右方侧，第二导电路径与扫描线平行、且位于扫描线的上方侧。

在本发明的一实施例中，上述的第一导电路径与数据线平行、且位于数据线的左方侧，第二导电路径与扫描线平行、且位于扫描线的下方侧。

在本发明的一实施例中，上述的第一导电路径与数据线平行、且位于数据线的左方侧，第二导电路径与扫描线平行、且位于扫描线的上方侧。

在本发明的一实施例中，上述的第一导电路径还包括：两个第一导电图案，从数据线延伸而出。并且，这些第一导电图案分别设置在第一修补线的两端，且电性连接到第一修补线。