[发明专利]大功率半导体器件管座压焊区去金工艺无效
申请号: | 200910248640.3 | 申请日: | 2009-12-20 |
公开(公告)号: | CN101740402A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
发明(设计)人: | 张帆;刘阳 | 申请(专利权)人: | 锦州七七七微电子有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48 |
代理公司: | 锦州辽西专利事务所 21225 | 代理人: | 李辉 |
地址: | 121000 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大功率 半导体器件 管座压焊区去 金工 | ||
技术领域
本发明涉及一种大功率半导体器件管座压焊区去金工艺。
背景技术
随着科技的发展,国内各行业需要的大功率器件越来越多。而在其 生产过程中,为了保证产品在使用过程中具有良好的可焊性,必须采用 镀金管腿。由于现有的大功率器件管座生产工艺,无法在镀金过程中使 压焊区与管腿隔离,因而,压焊区同时被镀金。而半导体芯片的导电带 为铝层,无论采用金丝还是铝丝键合,均存在金-铝系统,存在可靠性隐 患,许多高尖端产品严禁采用金铝系统。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种不存在金-铝系统肝,可解除可 靠性隐患,将管座的压焊区金层去除的大功率半导体器件管座压焊区去 金工艺。
本发明的技术解决方案是:
大功率半导体器件管座压焊区去金工艺,其特殊之处是:对欲处理 管座进行区域选择性涂胶,不要使光刻胶粘到管座压焊区;将涂完胶的 管座放到已恒温的烘箱中烘烤10~50分钟,所述的烘箱温度为70~100 ℃;配制金腐蚀液,所述的金腐蚀液是由碘、碘化钾和高纯水按照重量 份数比1∶1∶2~1∶1∶4组成;用配好的金腐蚀液将压焊区的金层去除; 再经去胶、冲洗、脱水和烘干,即可。
上述的大功率半导体器件管座压焊区去金工艺,将腐蚀后的管座用 氮气吹干后,放到显微镜下进行检查,如果未腐蚀干净,可进行再腐蚀。
本发明的优点是:由于将欲处理管座进行区域选择性涂胶,可解决 大功率器件的金-铝系统问题,解除可靠性隐患。
附图说明
图1为管座(以F型管座为例)的结构示意图。
图中:1-压焊区,2-管脚,3-镀镍壳体
具体实施方式
实施例1
1.涂胶
如图1所示,对欲处理管座进行区域选择性涂光刻胶,即在镀镍壳 体3表面除压焊区1以外部位和管脚2表面涂正性光刻胶,同时注意不 要使光刻胶粘到管座压焊区1上。
2.烘烤
将涂完胶的管座放到已恒温的烘箱中烘烤10分钟,烘箱温度为100 ℃。
3.配制金腐蚀液
取碘、碘化钾和高纯水按照重量份数比1∶1∶2混合配制金腐蚀液。
4.腐蚀
将烘好的管座从烘箱中取出,放到金腐蚀液中进行腐蚀,2~8分钟 后,将管座取出,用高纯水进行冲洗。
5.后处理
5.1检查
将腐蚀后的管座用氮气吹干后,放到显微镜下进行检查,如果未腐 蚀干净,可进行再腐蚀。
5.2去胶
将腐蚀好的管座放到去胶液(丙酮)中浸泡,完成去胶工艺。
5.3冲洗
将管座用高纯水冲洗干净。
5.4脱水
对管座进行脱水。
5.5烘干
将管座用红外灯烘干。
实施例2
1.涂胶
如图1所示,对欲处理管座进行区域选择性涂光刻胶,即在镀镍壳 体3表面除压焊区1以外部位和管脚2表面涂正性光刻胶,同时注意不 要使光刻胶粘到管座压焊区1上。
2.烘烤
将涂完胶的管座放到已恒温的烘箱中烘烤50分钟,烘箱温度为70 ℃。
3.配制金腐蚀液
取碘、碘化钾和高纯水按照重量份数比1∶1∶4混合配制金腐蚀液。
4.腐蚀
将烘好的管座从烘箱中取出,放到金腐蚀液中进行腐蚀,2~8分钟 后,将管座取出,用高纯水进行冲洗。
5.后处理
5.1检查
将腐蚀后的管座用氮气吹干后,放到显微镜下进行检查,如果未腐 蚀干净,可进行再腐蚀。
5.2去胶
将腐蚀好的管座放到去胶液(丙酮)中浸泡,完成去胶工艺。
5.3冲洗
将管座用高纯水冲洗干净。
5.4脱水
对管座进行脱水。
5.5烘干
将管座用红外灯烘干。
实施例3
1.涂胶
如图1所示,对欲处理管座进行区域选择性涂光刻胶,即在镀镍壳 体3表面除压焊区1以外部位和管脚2表面涂正性光刻胶,同时注意不 要使光刻胶粘到管座压焊区1上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造