[发明专利]大功率半导体器件管座压焊区去金工艺无效

专利信息
申请号: 200910248640.3 申请日: 2009-12-20
公开(公告)号: CN101740402A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 张帆;刘阳 申请(专利权)人: 锦州七七七微电子有限责任公司
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48
代理公司: 锦州辽西专利事务所 21225 代理人: 李辉
地址: 121000 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 大功率 半导体器件 管座压焊区去 金工
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种大功率半导体器件管座压焊区去金工艺。

背景技术

随着科技的发展,国内各行业需要的大功率器件越来越多。而在其 生产过程中,为了保证产品在使用过程中具有良好的可焊性,必须采用 镀金管腿。由于现有的大功率器件管座生产工艺,无法在镀金过程中使 压焊区与管腿隔离,因而,压焊区同时被镀金。而半导体芯片的导电带 为铝层,无论采用金丝还是铝丝键合,均存在金-铝系统,存在可靠性隐 患,许多高尖端产品严禁采用金铝系统。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种不存在金-铝系统肝,可解除可 靠性隐患,将管座的压焊区金层去除的大功率半导体器件管座压焊区去 金工艺。

本发明的技术解决方案是:

大功率半导体器件管座压焊区去金工艺,其特殊之处是:对欲处理 管座进行区域选择性涂胶,不要使光刻胶粘到管座压焊区;将涂完胶的 管座放到已恒温的烘箱中烘烤10~50分钟,所述的烘箱温度为70~100 ℃;配制金腐蚀液,所述的金腐蚀液是由碘、碘化钾和高纯水按照重量 份数比1∶1∶2~1∶1∶4组成;用配好的金腐蚀液将压焊区的金层去除; 再经去胶、冲洗、脱水和烘干,即可。

上述的大功率半导体器件管座压焊区去金工艺,将腐蚀后的管座用 氮气吹干后,放到显微镜下进行检查,如果未腐蚀干净,可进行再腐蚀。

本发明的优点是:由于将欲处理管座进行区域选择性涂胶,可解决 大功率器件的金-铝系统问题,解除可靠性隐患。

附图说明

图1为管座(以F型管座为例)的结构示意图。

图中:1-压焊区,2-管脚,3-镀镍壳体

具体实施方式

实施例1

1.涂胶

如图1所示,对欲处理管座进行区域选择性涂光刻胶,即在镀镍壳 体3表面除压焊区1以外部位和管脚2表面涂正性光刻胶,同时注意不 要使光刻胶粘到管座压焊区1上。

2.烘烤

将涂完胶的管座放到已恒温的烘箱中烘烤10分钟,烘箱温度为100 ℃。

3.配制金腐蚀液

取碘、碘化钾和高纯水按照重量份数比1∶1∶2混合配制金腐蚀液。

4.腐蚀

将烘好的管座从烘箱中取出,放到金腐蚀液中进行腐蚀,2~8分钟 后,将管座取出,用高纯水进行冲洗。

5.后处理

5.1检查

将腐蚀后的管座用氮气吹干后,放到显微镜下进行检查,如果未腐 蚀干净,可进行再腐蚀。

5.2去胶

将腐蚀好的管座放到去胶液(丙酮)中浸泡,完成去胶工艺。

5.3冲洗

将管座用高纯水冲洗干净。

5.4脱水

对管座进行脱水。

5.5烘干

将管座用红外灯烘干。

实施例2

1.涂胶

如图1所示,对欲处理管座进行区域选择性涂光刻胶,即在镀镍壳 体3表面除压焊区1以外部位和管脚2表面涂正性光刻胶,同时注意不 要使光刻胶粘到管座压焊区1上。

2.烘烤

将涂完胶的管座放到已恒温的烘箱中烘烤50分钟,烘箱温度为70 ℃。

3.配制金腐蚀液

取碘、碘化钾和高纯水按照重量份数比1∶1∶4混合配制金腐蚀液。

4.腐蚀

将烘好的管座从烘箱中取出,放到金腐蚀液中进行腐蚀,2~8分钟 后,将管座取出,用高纯水进行冲洗。

5.后处理

5.1检查

将腐蚀后的管座用氮气吹干后,放到显微镜下进行检查,如果未腐 蚀干净,可进行再腐蚀。

5.2去胶

将腐蚀好的管座放到去胶液(丙酮)中浸泡,完成去胶工艺。

5.3冲洗

将管座用高纯水冲洗干净。

5.4脱水

对管座进行脱水。

5.5烘干

将管座用红外灯烘干。

实施例3

1.涂胶

如图1所示,对欲处理管座进行区域选择性涂光刻胶,即在镀镍壳 体3表面除压焊区1以外部位和管脚2表面涂正性光刻胶,同时注意不 要使光刻胶粘到管座压焊区1上。

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