[发明专利]表面处理金属材料及其制造方法无效
申请号: | 200910247134.2 | 申请日: | 2009-11-30 |
公开(公告)号: | CN101930804A | 公开(公告)日: | 2010-12-29 |
发明(设计)人: | 笹冈高明;和岛峰生 | 申请(专利权)人: | 日立电线株式会社 |
主分类号: | H01B1/02 | 分类号: | H01B1/02;H01B5/00;H01R13/03;H01H1/02;B32B15/01;C23C14/16 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 表面 处理 金属材料 及其 制造 方法 | ||
1.一种表面处理金属材料,其特征在于,在最表层具有钝态膜的金属基材的表面上,从该金属基材的表面侧顺次形成密合层和接合层,
所述密合层由以铬(Cr)、铌(Nb)或钛(Ti)中的一种为主成分的溅射膜形成,该膜的内部残留应力为压缩应力或大致为零,
所述接合层由以铜(Cu)、铜和镍(Cu-Ni)的混合状态、铜和锌(Cu-Zn)的混合状态、铜和镍和锌(Cu-Ni-Zn)的混合状态中的至少一种为主成分的溅射膜形成。
2.根据权利要求1记载的表面处理金属材料,其中,所述密合层由以铬(Cr)为主成分的溅射膜形成。
3.根据权利要求1或2记载的表面处理金属材料,其中,所述密合层和所述接合层的界面的氧强度比例X为X≤0.02,所述氧强度X定义为氧(O)的强度/(氧(O)的强度+所述密合层的铬(Cr)或铌(Nb)或钛(Ti)的强度+所述接合层的成分元素的强度)=X,其是通过利用XPS或俄歇电子能谱的分光分析法以2nm的分辨能力进行测定的。
4.根据权利要求1或2记载的表面处理金属材料,其中,所述金属基材由特意添加了镁(Mg)的材质形成,
所述密合层和所述接合层的界面的氧强度比例X为X≤0.04,所述氧强度X定义为氧(O)的强度/(氧(O)的强度+所述密合层的铬(Cr)或铌(Nb)或钛(Ti)的强度+所述接合层的成分元素的强度)=X,其是通过利用XPS或俄歇电子能谱的分光分析法以2nm的分辨能力进行测定的。
5.根据权利要求2记载的表面处理金属材料,其中,所述密合层的平均厚度为10nm以上500nm以下。
6.根据权利要求3记载的表面处理金属材料,其中,所述密合层的平均厚度为10nm以上500nm以下。
7.根据权利要求4记载的表面处理金属材料,其中,所述密合层的平均厚度为10nm以上500nm以下。
8.根据权利要求2记载的表面处理金属材料,其中,所述接合层的平均厚度为15nm以上。
9.根据权利要求3记载的表面处理金属材料,其中,所述接合层的平均厚度为15nm以上。
10.根据权利要求4记载的表面处理金属材料,其中,所述接合层的平均厚度为15nm以上。
11.根据权利要求5记载的表面处理金属材料,其中,所述接合层的平均厚度为15nm以上。
12.一种表面处理金属材料,其特征在于,在最表层具有钝态膜的金属基材的表面上,从该金属基材的表面侧顺次形成密合层和接合层,在所述接合层上进一步具有保护层,
所述密合层由以铬(Cr)、铌(Nb)或钛(Ti)中的一种为主成分的溅射膜形成,该膜的内部残留应力为压缩应力或大致为零,
所述接合层由以铜(Cu)、铜和镍(Cu-Ni)的混合状态、铜和锌(Cu-Zn)的混合状态、铜和镍和锌(Cu-Ni-Zn)的混合状态中的至少一种为主成分的溅射膜形成,
所述保护层由以镍(Ni)、锡(Sn)、铜和镍(Cu-Ni)的混合状态、铜和镍和锌(Cu-Ni-Zn)的混合状态、铜和锌(Cu-Zn)的混合状态中的至少一种为主成分的溅射膜形成。
13.根据权利要求12记载的表面处理金属材料,其中,所述密合层由以铬(Cr)为主成分的溅射膜形成。
14.根据权利要求2、12或13中任一项记载的表面处理金属材料,其中,在所述接合层上进一步具有保护层,所述保护层由以铜(Cu)或者镍(Ni)或锌(Zn)为主成分的镀敷膜形成。
15.根据权利要求2、12或13中任一项记载的表面处理金属材料,其中,在所述接合层上或所述保护层上,进一步具有将锡(Sn)或焊料用途对应的组成的锡合金镀敷成膜而成的焊料层。
16.根据权利要求14记载的表面处理金属材料,其中,在所述接合层上或所述保护层上,进一步具有将锡(Sn)或焊料用途对应的组成的锡合金镀敷成膜而成的焊料层。
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