[发明专利]一种高速运动状态下电子标签的性能测试方法及系统有效
| 申请号: | 200910242344.2 | 申请日: | 2009-12-09 |
| 公开(公告)号: | CN101777136A | 公开(公告)日: | 2010-07-14 |
| 发明(设计)人: | 谭杰;赵红胜;朱智源 | 申请(专利权)人: | 中国科学院自动化研究所 |
| 主分类号: | G06K17/00 | 分类号: | G06K17/00;G06K19/00 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 梁爱荣 |
| 地址: | 100080北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 高速 运动 状态 电子标签 性能 测试 方法 系统 | ||
技术领域
本发明涉及无线技术测试领域,尤其涉及一种高速运动状态下电 子标签的性能测试系统及方法
背景技术
随着射频识别系统的大规模使用,人们对电子标签的要求也随着 应用行业的不同而有所不同。
对于铁路系统和公交系统,因为电子标签的使用对象(火车或公 交车)往往需要在不停车的情况下,完成电子标签的识读过程。相比 于其他行业的标签,这种电子标签必须满足在高速行驶的情况下,也 要有高超的接收和发送射频信号的性能,完成与读写器直接的信息交 互。
对于电子标签该项性能的测试,一般是采用直线高速模拟的方法 进行。
由于实验室的环境和场面限制,电子标签的高速性能往往无法在 实验室进行。而对于电子标签生产厂家在研发产品过程中,迫切需要 经常性地进行高速性能测试,如果每次测试都需要在场外进行,对于 电子标签研发单位来说既耗时又费钱,因而是不现实的。
发明内容
本发明其目的针对高速运动标签性能测试这一特殊要求,在实验 室环境下,测试高速运动状态下电子标签的性能,观察电子标签和读 写器,在高速运动状态下能否实现信息交互,为此本发明提供一种高 速运动状态下电子标签的性能测试方法。
为实现以上目的,本发明的第一方面,是提供一种高速运动状态 下电子标签的性能测试方法,该测试方法包括以下步骤:
步骤A:首先按照将待测电子标签放入转盘的凹槽中,固定好凹 槽外侧的卡子;初始化整个系统设备;
步骤B:利用读写器控制程序向待测电子标签发送查询指令;
步骤C:读写器检测待测电子标签的响应指令,所述的待测电子 标签的响应指令是读写器控制和分析软件能够解析出待测电子标签反 馈的射频信号中包含的电子产品码信息,若不能正确检测,则停止测 试;
步骤D:利用控制器控制软件启动电机旋转,第一次速度为50 转/分,以后速度为当前速度+步长为50转/分;
步骤E:判断电机当前转速,是否已达到电机最大转速,若是,则 停止测试;否则进行下面步骤;
步骤F:重复步骤B~E。
为实现以上目的,本发明的第二方面,是提供一种高速运动状态 下电子标签的性能测试系统,提出的技术方案如下:由待测电子标签、 测试装置和测试设备组成,其中:
所述测试装置包括:转盘、屏蔽罩、电机、支撑台和控制器;电机 安装在支撑台上,电机的转轴与转盘中心处固定连接;控制器的控制 端与电机的控制端连接,电机执行控制器发出的控制命令而转动;
所述待测电子标签固接于转盘上;转盘和待测电子标签位于屏蔽 罩内;
所述测试设备包括:读写器、测试天线和计算机;计算机与控制器 通过USB接口或RS232串口连接,计算机通过USB接口或RS232串 口向控制器发生控制命令,从而改变与控制器相连的电机行为;计算 机通过RS232串口或网口与读写器连接,通过串口或网口,计算机控 制读写器发起查询指令;测试天线固接于紧固件上,紧固件是由对超 高频射频信号不敏感的材质构成;测试天线与读写器通过串口连接连 接;测试天线和待测电子标签通过空基以射频连接,读写器内含的控 制程序可以对待测电子标签的响应指令作出分析。
本发明的有益效果是:
该系统可以实现在实验室环境下,以圆周运动模拟直线运动,对 高速运动标签进行测试,满足电子机构研发机构的研发需要。同时, 该测试系统也可以实现对电子标签高速运动状态下性能指标的测试。 利用实验室环境,而不是外场实际环境进行测试,可以节省电子标签 研发机构的时间和费用,同时也便于实施。屏蔽罩主要是一方面用于 通过增加或减少转盘暴露范围可以增加或减少待测电子接收读写器发 送的射频信号的时间,提高测试结果的科学性;另一方面防止电子标 签在测试过程中飞离转盘。
附图说明
图1为本发明提供的高速运动状态下电子标签性能测试系统示意图。
图2是本发明方法的流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下参照附 图,对本发明进一步详细说明。
如图1所示,图1为本发明提供的高速运动状态下电子标签性能 测试系统示意图,由测试装置、待测电子标签和测试设备组成,其中:
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