[发明专利]内含自动复位电路的集成电路芯片无效
| 申请号: | 200910238968.7 | 申请日: | 2009-12-31 |
| 公开(公告)号: | CN101826861A | 公开(公告)日: | 2010-09-08 |
| 发明(设计)人: | 刘磊;黄水龙;王小松;李东岳;张海英;陈作添;李勇强 | 申请(专利权)人: | 国民技术股份有限公司 |
| 主分类号: | H03K17/22 | 分类号: | H03K17/22 |
| 代理公司: | 深圳市睿智专利事务所 44209 | 代理人: | 陈鸿荫 |
| 地址: | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 内含 自动 复位 电路 集成电路 芯片 | ||
1.一种内含自动复位电路的集成电路芯片,所述集成电路本体和内含于其中的自动复位电路,该自动复位电路又顺序电连接的差位电压产生模块(1)、电压检测模块(2)和整形模块(4);电源电压Vdd作为输入电压施加于所述差位电压产生模块(1)上,其特征在于:
加电时,所述差位电压产生模块(1)输出的差位电压V1随电源电压Vdd逐渐上升而同步上升,但始终低于所述电源电压Vdd一个差量ΔV,直至所述Vdd达到稳定值,所述差位电压产生模块(1)输出的差位电压V1也达到稳定值,但仍小于电源电压Vdd一个差量ΔV;
所述差位电压产生模块(1)输出的差位电压V1作为电压检测模块(2)的输入信号,在该差位电压V1增大至一定数值时,所述电压检测模块(2)的输出电压V2由原先达到的电源电压Vdd值翻转跌落至零;
所述电压检测模块(2)的输出电压V2作为整形模块(4)的输入电压,经过该整形模块(4)整形后,输出电压Vout成为达到使电路稳定工作要求的负阶跃信号。
2.根据权利要求1所述的内含自动复位电路的集成电路芯片,其特征在于:还包括延时模块(3);电连接于电压检测模块(2)、整形模块(4)之间。
3.根据权利要求2所述的内含自动复位电路的集成电路芯片,其特征在于:所述延时模块(3)包括偶数个顺序串联的反相器,为保证所需延迟时间,所述反相器中所用PMOS管和NMOS管都应选用较大规格的。
4.根据权利要求1所述的内含自动复位电路的集成电路芯片,其特征在于:所述差位电压产生模块(1)由至少一个PMOS管P1和一个电阻R串联组成,该PMOS管P1的源级和直流电源Vdd连接,栅极与漏极相连构成二极管连接方式;电阻R连接于PMOS管P1的漏极和电源地之间,从所述PMOS管P1漏极和电阻R的连接处引出该模块的输出端。
5.根据权利要求1所述的内含自动复位电路的集成电路芯片,其特征在于:所述电压检测模块(2)由PMOS管和NMOS管串联组成;PMOS管的源极和直流电源VDD连接,NMOS管的源极接电源地;PMOS管的漏极和NMOS管的漏极电连接;所述PMOS管和NMOS管的栅极并联连接为所述电压检测模块(2)的输入端,并和所述差位电压产生模块(1)的输出端电连接。
6.根据权利要求5所述的内含自动复位电路的集成电路芯片,其特征在于:所述电压检测模块(2)包括顺序串联连接的至少两个PMOS管P1、P2和至少三个NMOS管N1、N2、N3;所述PMOS管P2的源极和直流电源Vdd连接;所述P2的漏极与P3的源极电连接;N1的漏极与P3的漏极电连接,N2的漏极和N1的源极电连接,N3的漏极和N2的源极电连接,N3的源极接电源地,从所述PMOS管P3的漏极和所述NMOS管N1的漏极连接处引出所述电压检测模块(2)的输出端。
7.根据权利要求1所述的内含自动复位电路的集成电路芯片,其特征在于:所述整形模块(4)包括顺序串联的第一级反相器(41)和第二级反相器(42)。
8.根据权利要求7所述的内含自动复位电路的集成电路芯片,其特征在于:所述第一级反相器(41)和第二级反相器(42)均至少包括一个PMOS管和一个NMOS管;所述第一级反相器(41)包括PMOS管P4和NMOS管N4,PMOS管P4的源极和直流电源Vdd连接,P4的漏极与N4的漏极电连接并从连接处引出该第一级反相器输出端,P4的栅极与N4的栅极电连接构成该第一级反相器(41)的输入端并与电压检测模块(2)的输出端电连接,N4的源极接地;所述第二级反相器(42)包括PMOS管P5和NMOS管N5,PMOS管P5的源极和直流电源Vdd连接,P5的栅极与N5的栅极电连接构成该第二级反相器(42)的输入端并与第一级反相器(41)输出端电连接,N5的源极接地,P5的漏极与N5的漏极电连接并从该连接处引出复位信号Vres亦即输出信号Vout。
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