[发明专利]一种对处理器芯片进行在线检测的装置和方法

权利要求书

1.一种对处理器芯片进行在线检测的装置，包括JTAG接口，其特征在于，还包括接入到所述JTAG接口的由处理器芯片内部扫描触发器连接所形成的扫描链；

所述JTAG接口的TAP控制器包括一扩展检测控制模块，用于利用TAP控制器内部的信号，控制输入TCK时钟和输入的TMS产尘扩展检测的时钟和扫描使能信号，控制处理器芯片内部的多个扫描触发器连成一条扫描链，和控制处理器芯片内部RAM端口的多个扫描触发器连成一条扫描链，并控制JTAG接口芯片的TDI和TDO端口分别连接到所述扫描链的扫描输入和扫描输出，在检测模式为触发器诊断模式，或者为RAM扫描读写模式下，通过控制TCK时钟扫描移位，进行处理器芯片内部电路的检测；

当所述检测模式为触发器诊断模式时，对处理器芯片进行在线检测包括如下步骤：

步骤A10，在处理器芯片运行的过程中，如果发生错误，通过JTAG接口的端口设置扩展指令寄存器为触发器诊断模式，执行触发器诊断指令，将处理器芯片内部的扫描触发器串成一条扫描链；

步骤A20，控制测试模式选择信号TMS，使得Shift_DR信号有效，从而使得扫描信号SCA_EXT信号有效，控制JTAG接口的TDI和TDO端口分别连接到所述扫描链的扫描输入和扫描输出，在触发器诊断模式下进行处理器芯片内部电路的检测；

步骤A30，控制TCK时钟，使得在扫描触发器的值通过TDO的端口一拍拍输出到芯片外部；

当所述检测模式为RAM扫描读写模式时，对处理器芯片进行在线检测包括如下步骤：

步骤B10，通过JTAG接口的端口设置扩展指令寄存器为RAM诊读写模式，执行RAM诊断指令，处理器芯片内部的RAM设置多个扫描触发器，这些扫描触发器处于RAM扫描读写模式下时，首尾相接串为一条RAM读写的扫描链；

步骤B20，控制JTAG接口的TDI和TDO端口分别连接到所述扫描链的 扫描输入和扫描输出，在RAM扫描读写模式下，进行RAM读写检测。

2.根据权利要求1所述的对处理器芯片进行在线检测的装置，其特征在于，所述扫描触发器，包括一扫描输入端口，一扫描输出端口，以及一扫描使能端口；

所述扫描触发器所连成的扫描链，其首个扫描触发器的扫描输入端口接入JTAG接口的TDI端口，最末的扫描触发器的扫描输出端口连接到JTAG接口的TDO端口；当前扫描触发器的扫描输入端口连接到上一个扫描触发器的扫描输出端口；

所述扫描触发器的扫描使能端口连接到扫描使能信号。

3.根据权利要求2所述的对处理器芯片进行在线检测的装置，其特征在于，所述JTAG接口还包括扩展指令寄存器，用于存储实现所述扩展检测控制模块功能的触发器检测指令；

所述扩展检测控制模块运行时，读取扩展指令寄存器中相应的触发器检测指令并执行扩展检测控制模块功能，进行相应的扩展检测。