[发明专利]OFDM帧同步、频率同步、符号细同步的时域联合估计方法有效

专利信息
申请号: 200910237836.2 申请日: 2009-11-11
公开(公告)号: CN102065048A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 吴斌;周玉梅;姜鑫 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H04L27/26 分类号: H04L27/26
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: ofdm 同步 频率 符号 时域 联合 估计 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及通信领域中同步技术领域,尤其涉及一种适用于宽带数据分组突发传输正交频分复用(Orthogonal Frequency Division Multiplexing,OFDM)系统的帧同步、频率同步、符号细同步的时域联合估计方法。

背景技术

正交频分复用技术因其出色的抗多径能力和很高的频谱利用率在当前宽带无线通信系统及数字广播通信系统中得到了广泛的应用:例如无线局域网标准WiFi(802.11a/g/n),WiMax(802.16d/e)、LTE下行链路,数字广播系统DVB、CMMB等都采用了OFDM技术。OFDM技术的一个主要缺点是对时间偏移和频率偏移比较敏感,时间偏移会导致符号间干扰,频率偏移会破坏子载波之间的正交性,引起载波间干扰,使得系统性能急剧下降。要想实现OFDM系统数据解调结果的低误码率性能,需要精确的频率同步。不同的频率同步算法会导致频率同步实现的复杂度差别巨大,而分组突发的宽带数据传输系统需要同步借助辅助训练数据序列的作用在很短的时间内完成同步,因而需要同步技术具备低复杂度和实时性的优点,时间同步和频率同步是OFDM接收机设计中的一个关键技术点。

传统的时频同步联合估计方法

传统的联合定时和频偏的同步算法是T.M.Schmidl的所设计的时频同步算法以及对Schmidl的改进算法,在该方法中使用位于数据帧头的两个训练序列分两步得到时间和频率同步,其时间同步是通过搜索第一个序列内前后完全相同的两部分的相关性而得到,但该算法的缺点是在正确的定时点附近存在一个定时测度平台,导致较大的定时方差。同时,采用该算法的另一缺点是频偏估计范围较小(往往只能估计小数倍频偏)。

OFDM系统中的频率偏移可以分为子载波间隔小数倍的频偏(小数倍频偏ffrac)以及子载波间隔整数倍的频偏(整数倍频偏fint),子载波间隔小数倍的频偏会破坏子载波间的正交性,引起子载波间干扰;子载波间隔整数倍的频偏则导致解调后的数据在子载波上的整体偏移;因此OFDM的频率同步包括子载波间隔小数倍及整数倍频偏的估计和补偿。关于OFDM系统的频率同步方法已经有许多文献进行了研究,这些方法可以分为盲估计算法以及数据辅助估计算法两大类。数据辅助估计算法因其捕获速度快,估计精度高的特点更适用于突发的数据传输。Moose提出了载波频率偏移的最大似然估计算法[1],采用两个连续的相同训练序列,频偏的估计范围为±0.5个子载波间隔,通过缩短训练序列可以增加频偏的估计范围,但同时会带来估计精度的下降。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明的主要目的在于提供一种适合于宽带分组突发数据OFDM系统的帧同步、频率同步、符号细同步的时域联合估计方法,以解决传统的时频联合估计方法中定时测度平台要求严格而导致的系统测度函数硬件设计复杂的矛盾,解决整数倍频偏估计和符号细同步不准确且相互影响的矛盾,并解决时频同步分别估算小数倍频偏和整数倍频偏所带来的硬件运算开销较大的矛盾,并解决时频同步算法的运算复杂度导致延时增加的矛盾。

(二)技术方案

为达到上述目的,本发明提供了一种OFDM帧同步、频率同步、符号细同步的时域联合估计方法,该方法包括:

步骤1:设置用于帧同步和频率同步检测的小点数自相关运算器和大点数自相关运算器的相关器长度;

步骤2:对接收端的基带数据序列并行进行小点数长度的自相关运算和大点数长度的自相关运算,得到小点数自相关峰值和大点数自相关峰值;

步骤3:实时并行的通过小点数自相关峰值和大点数自相关峰值确定帧同步位置;

步骤4:根据小点数自相关峰值和大点数自相关峰值计算整数倍频偏估计粗值和小数倍频偏估计粗值;

步骤5:将整数倍频偏估算粗值和小数倍频偏估算粗值通过频偏取值判决器估算出最终频偏检测值;

步骤6:根据估算出的最终频偏检测值,对基带数据序列进行频偏校正;

步骤7:对校正后的基带数据序列与本地数据序列进行互相关,通过寻找互相关峰值确定准确的符号细同步位置。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910237836.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top