[发明专利]一种磁体角度偏差的测量装置及方法

权利要求书

1.一种磁体角度偏差的测量装置，其特征在于，该磁体角度偏差的测量装置包括：

可进行水平调节的支撑架；

一对安装在该支撑架上的赫尔姆兹线圈；

上部连接有支座且可绕该对赫尔姆兹线圈的中心线实现旋转的传动机构；

安装该支座上使磁体的几何中心与赫尔姆兹线圈的几何中心重合的夹具；和

与赫尔姆兹线圈相连接的磁通变化感应测量装置。

2.如权利要求1所述的磁体角度偏差的测量装置，其特征在于，设有使所述支座绕该对赫尔姆兹线圈的中心线旋转180°的止挡。

3.如权利要求1所述的磁体角度偏差的测量装置，其特征在于，赫尔姆兹线圈连接有用来测量其磁通变化量的磁通计。

4.如权利要求1所述的磁体角度偏差的测量装置，其特征在于，该装置由不导磁材料制成。

5.如权利要求1所述的磁体角度偏差的测量装置，其特征在于，夹具通过四个呈四方形分布的定位块固定。

6.一种磁体角度偏差的测量方法，其特征在于，包括下列步骤：

设置使磁体的长、宽、高方向的几何中心均可与一对赫尔姆兹线圈的几何中心重合的夹具；

使该对赫尔姆兹线圈与磁通变化感应测量装置相连接；

依次沿磁体的长、宽、高方向使该磁体定位在该夹具内，并且在该对赫尔姆兹线圈的中心旋转，从而测出磁体的三个磁矩分量；以及

结算磁矩的矢量值。

7.如权利要求6所述的磁体角度偏差的测量方法，其特征在于，使所述支座绕该对赫尔姆兹线圈的中心线旋转180°。

8.如权利要求6所述的磁体角度偏差的测量方法，其特征在于，赫尔姆兹线圈连接有用来测量其磁通变化量的磁通计。

9.如权利要求6所述的磁体角度偏差的测量方法，其特征在于，各部件由不导磁材料制成。

10.如权利要求6所述的磁体角度偏差的测量方法，其特征在于，通过四个呈四方形分布的定位块固定夹具。