[发明专利]具有多个发光单元的发光二极管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200910224858.5 申请日: 2009-11-27
公开(公告)号: CN101752399A 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 葛大成;金大原;徐源哲;芮暻熙;李柱雄 申请(专利权)人: 首尔半导体株式会社
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L21/782;H01L33/44
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 郭鸿禧;薛义丹
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 具有 发光 单元 发光二极管 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种发光二极管,包括:

多个发光单元,在单个基底上彼此分开,每个发光单元包括下半导体层、 上半导体层和有源层,上半导体层位于下半导体层的一个区域上方,有源层 设置在上半导体层和下半导体层之间;

第一介电层,覆盖发光单元的整个表面,并且具有形成在下半导体层的 其它区域上的开口和形成在上半导体层上的开口;

导线,形成在第一介电层上,通过开口将相邻的发光单元彼此电连接;

第二介电层,覆盖第一介电层和导线,

其中,第一介电层和第二介电层由相同的材料形成,并且第一介电层比 第二介电层厚。

2.如权利要求1所述的发光二极管,其中,第一介电层的厚度为~ 1μm,第二介电层的厚度大于

3.如权利要求2所述的发光二极管,其中,第一介电层和第二介电层是 通过等离子体增强化学气相沉积以200℃~300℃沉积的氧化硅层。

4.如权利要求3所述的发光二极管,其中,以第一介电层的沉积温度的 -20%~+20%的范围内的温度沉积第二介电层。

5.如权利要求2所述的发光二极管,其中,导线具有多层结构,所述多 层结构包括与第一介电层接触的下层和与第二介电层接触的上层,上层是Cr 层或Ti层,且下层是Cr层或Ti层。

6.如权利要求5所述的发光二极管,所述导线还包括设置在上层和下层 之间的Au、Au/Ni或Au/Al中间层。

7.如权利要求2所述的发光二极管,其中,第一介电层和第二介电层由 氮化硅形成。

8.如权利要求1所述的发光二极管,其中,第一介电层和第二介电层由 聚合物形成。

9.如权利要求8所述的发光二极管,其中,第二介电层至少在一部分区 域中包含荧光体。

10.如权利要求1所述的发光二极管,所述发光二极管还包括在第二介 电层上的荧光体层。

11.如权利要求1所述的发光二极管,所述发光二极管还包括在第一介 电层和上半导体层之间的透明电极层。

12.如权利要求11所述的发光二极管,其中,透明电极层由氧化铟锡形 成。

13.如权利要求11所述的发光二极管,其中,透明电极包含从由Au、 Ni、Pt、Al、Cr、Ti及它们的合金组成的组中选择的至少一种金属。

14.如权利要求11所述的发光二极管,其中,透明电极层具有开口,上 半导体层通过所述开口暴露,所述开口填充有导线。

15.一种制造发光二极管的方法,该方法包括以下步骤:

在单个基底上形成彼此分开的多个发光单元,每个发光单元包括下半导 体层、上半导体层和有源层,上半导体层位于下半导体层的一个区域上方, 有源层设置在上半导体层和下半导体层之间;

形成第一介电层,第一介电层覆盖发光单元的整个表面,并且具有形成 在下半导体层的其它区域上的开口和形成在上半导体层上的开口;

在第一介电层上形成导线,以通过开口将相邻的发光单元彼此电连接;

形成覆盖第一介电层和导线的第二介电层,

其中,第一介电层和第二介电层由相同的材料形成,并且第一介电层比 第二介电层厚。

16.如权利要求15所述的方法,其中,第一介电层的厚度为~1μm, 第二介电层的厚度大于

17.如权利要求16所述的方法,其中,第一介电层和第二介电层是通过 等离子体增强化学气相沉积以200℃~300℃沉积的氧化硅层。

18.如权利要求17所述的方法,其中,在第一介电层的沉积温度的-20%~ +20%的范围内的温度下沉积第二介电层。

19.如权利要求16所述的方法,其中,导线具有多层结构,所述多层结 构包括与第一介电层接触的下层和与第二介电层接触的上层,上层和下层是 Cr层或Ti层。

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