[发明专利]再现装置和再现方法

说明书

技术领域

本发明涉及用于再现被记录在光盘上的数据的再现装置和方法，并且 更具体地涉及用于高效地从光盘上的缺陷位置读取数据的再现装置和方 法。

背景技术

再现被记录在光盘上的数据的再现装置以RUB(读取单元块)为单位 读取数据，所述RUB是光盘上的最小记录单位。

在这种类型的再现装置中，从光盘上的特定RUB读出的数据可能会 由于对用于所述数据的纠错码(ECC)解码失败而被丢失。ECC解码可能 会因为光盘表面上的缺陷而失败，所述缺陷例如划痕、灰尘、指纹污渍和 光盘被成型时所产生的微小气泡。

在相关技术的再现装置中，为了防止由于这些缺陷而导致的数据丢 失，用于再现处理的参数被设置，并且通过将这些参数应用于从光盘中读 出的数据来尝试ECC解码。通常，这些参数可以根据缺陷的类型而被改变 以提高数据读取性能。

例如，日本未审查专利申请公开No.2006-286112描述了通过确定缺 陷的有/无以及基于缺陷的细微度和大小确定缺陷的种类来设置最佳参数的 再现技术。

除了日本未审查专利申请公开No.2006-286112中所描述的再现技术 以外，另一种再现技术也是在实际使用的，其中用于多种缺陷的多个参数 被预先准备好，并且通过顺序地改变参数来尝试ECC解码。在这种再现技 术中，预先被准备好的参数预先以特定的顺序被排列，并且通过按此顺序 改变参数来重试ECC解码，一直到ECC解码被成功完成为止。

现在将更具体地描述相关技术中的这种再现装置中的数据再现技术。 在这种再现装置中，数据从RUB中被顺序地读取，所述RUB例如以类似 年轮的结构被布置在记录介质上。在针对从特定RUB读出的数据的第一 再现处理(下面视情况被称为“正常再现处理”)中，参数被设置为其初 始值并且针对所述的数据的ECC解码被尝试。如果在正常再现处理中 ECC解码未被成功完成，则再现装置改变参数设置并重试再现处理(下面 视情况被称为“重试再现处理”)。

重试再现处理中所使用的参数值被列在参数表中。例如，多个参数值 按照应用于ECC解码的顺序被列出。更具体而言，例如，针对光盘上的划 痕有效的参数值第一个被列在参数表中，并且针对灰尘有效的参数值第二 个被列出。针对光盘上的气泡有效的参数值第三个被列出并且针对指纹污 渍有效的参数值第三个被列出。

如果在正常再现处理中ECC解码失败，则再现装置通过查找参数表来 顺序地改变参数值并重复重试再现处理，直到ECC解码被成功完成。一旦 ECC解码完成，数据就从下一个RUB中被读出并且针对该数据的ECC解 码在正常再现处理中被尝试。由于缺陷通常出现在光盘上非常有限的区域 内，所以在针对特定RUB的ECC解码完成之后，参数被重置为其初始 值。

如上所述，在例如被安装在个人计算机(PC)中的相关技术中的再现 装置中，如果在正常再现处理中ECC解码未被成功完成，则重试再现处理 被重复进行所允许的次数以完成ECC解码。

假设缺陷存在于特定的RUB中并且针对从该RUB中读出的数据的 ECC解码被利用参数表中的第四个参数值而成功完成，就是说，ECC解码 在正常再现处理中未被成功完成，而在第四次重试再现处理中被成功完 成。

在针对从特定RUB中读出的数据的ECC解码利用第四个参数值被完 成之后，再现装置将参数重置为其初始值，从下一个RUB中读出数据， 并尝试针对该数据的ECC解码。按照这种方式，针对从每个RUB中读出 的数据独立地尝试ECC解码。

假设在再现装置的光学头已经利用旋转读取了光盘上的数据之后，针 对从与在重试再现处理先前被执行的地方的RUB在径向上相邻的RUB中 读取的数据的ECC解码被尝试。如果当前的RUB也是有缺陷的并且再现 处理被重试，则当前RUB中的缺陷类型很可能与重试再现处理先前被执 行的地方的RUB中的缺陷类型一样，因为缺陷通常在多个径向相邻的 RUB上延伸。在这种情况下，如果第四个参数值被使用，则针对当前 RUB的ECC解码将很可能被成功完成。

发明内容

在相关技术的再现装置中，在针对从有缺陷的RUB中读出的数据的 ECC解码完成之后，参数被重置为其初始值，如上所述。当针对从下一个 有缺陷的RUB中读出的数据的ECC解码被尝试时，参数值从其初始值开 始被顺序地改变，即使缺陷的类型与前一个缺陷的类型一样也是如此。