[发明专利]物理设计中基于双向优先选择的扫描链重构方法与装置

说明书

技术领域

本发明是关于一种扫描链的结构重构方法与装置，尤其是关于芯片物理设计中基于双向优先选择的扫描链的结构重构方法与装置。

背景技术

为了芯片的可测试性考虑，目前绝大多数芯片中都会设置用于测试的扫描链。由于扫描链是在芯片逻辑设计阶段插入，插入时没有计入物理信息，导致在物理设计阶段扫描链占用过多的布线资源，引起布线拥塞甚至无法布线的问题。因此，在物理设计阶段对扫描链进行结构优化以尽可能减少其占用的布线资源，变得十分必要。

然而，现有的一些扫描链结构优化方法大都只着眼于一局部或单一指标的优化，如优化时间等，优化的方法过于粗略而无法取得理想的效果。例如，只考虑扫描元件的纵向位置或横向位置，甚至不考虑扫描链的起点与终点位置。此外，业界也有少数全局考虑扫描元件和扫描链位置的优化方法，但是在优化效率或者优化时间上都存在一些不足。

因而，如何获得一种更有效的扫描链结构优化方法一直是业界关注的问题。

发明内容

本发明提供一种物理设计中基于双向优先选择的扫描链重构方法与装置，在物理设计阶段对全局的扫描链结构进行重构优化，在保证测试的同时解决了不合理的扫描链结构导致的布线资源浪费问题。

本发明提供一种扫描链的结构重构方法，其重构若干条扫描链，该若干条扫描链共包含若干个扫描元件。该扫描链的结构重构方法包含：步骤一：针对该若干条扫描链中的每一条分别建立其对该若干扫描元件的第一偏好序列；步骤二：针对该若干扫描元件中的每一个分别建立其对该若干扫描链的第二偏好序列；步骤三：该若干扫描链与该若干扫描元件基于各自相应的该第一偏好序列与该第二偏好序列进行双向选择，从而将该若干扫描元件重新分配给该若干条扫描链。

其中，该若干扫描链中的每一个的该第一偏好序列是根据该若干扫描元件中的每一个与该扫描链的起点、终点的距离的和由小到大排列建立。该若干扫描元件中的每一个的第二偏好序列是根据该扫描元件至该若干扫描链中的每一个的起点、终点的距离和再加上该相应扫描链的起点至终点的距离由小到大排列建立。该步骤三进一步包含：步骤I：从一可用扫描元件集中选择一个可用扫描元件；步骤II：基于该可用扫描元件的第二偏好序列找出其偏好优先级最高的一扫描链；步骤III：步骤a：判断该扫描链是否被分配满，如果该扫描链未被分配满，则执行步骤b：将该可用扫描元件分配给该扫描链，并将其从该可用扫描元件集中移除；否则进入步骤c：根据该扫描链的第一偏好序列判断该扫描链中是否存在偏好优先级低于该可用扫描元件的扫描元件。其中该步骤c进一步包含：如存在，则在步骤c1：将该扫描链中偏好优先级最低的一扫描元件从该扫描链中移除，将其加入到该可用扫描元件集；同时将该可用扫描元件分配给该扫描链；如不存在，则至步骤c2：根据该可用扫描元件的第二偏好序列选择其偏好优先级较该扫描链次之的一扫描链，并返回步骤a。此外，该步骤III进一步包含在步骤b或步骤c1之后执行步骤d：检查该可用扫描元件集是否为空，如空则该若干扫描链重构结束，否则返回步骤I。

在另一实施例中，该步骤三进一步包含：步骤I：在一待重构扫描链集中选择一待重构扫描链；步骤II：根据该待重构扫描链的第一偏好序列选择其偏好优先级最高的一扫描元件；步骤III：在步骤a：检查该扫描元件是否已被使用：如未被使用，则在步骤b：将该扫描元件分配该扫描链，并将其自一可用扫描元件集中移除；否则，在步骤c：根据该扫描元件的第二偏好序列检查其所在的扫描链是否较该待重构扫描链具有更高的偏好优先级。其中该步骤c进一步包含：如该扫描元件所在的扫描链的偏好优先级较低，则进入步骤c1：该扫描元件自所在扫描链中移除并将其分配给该待重构扫描链，将移除该扫描元件的扫描链加入该待重构扫描链集。如该扫描元件所在的扫描链的偏好优先级更高，则进入步骤c2：根据该待重构扫描链的第一偏好序列找出其偏好优先级较该扫描元件次之的一扫描元件，然后返回步骤a。此外，该步骤III进一步包含在步骤b或步骤c1之后执行步骤d：判断该扫描链是否完成重构，如完成则进入步骤e检查该待重构扫描链集中是否为空；否则返回步骤II。该步骤e进一步包含：如该待重构扫描链集为空，则全部扫描链重构结束；否则，返回步骤I。