[发明专利]测试机具无效

专利信息
申请号: 200910209713.8 申请日: 2009-10-30
公开(公告)号: CN102053893A 公开(公告)日: 2011-05-11
发明(设计)人: 黄士伟;陈德馨;何志华;颜明颖 申请(专利权)人: 广达电脑股份有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 史新宏
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 测试 机具
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种测试机具,且特别涉及一种用以对计算机系统的主机板(Main Board)进行测试的测试机具。

背景技术

在系统开发阶段中,研发人员需清楚了解其设计的计算机系统中的电源相关电路是否稳定,以确保系统中所有电路及芯片能正常运作。一般来说,研发人员需对计算机系统进行断电/供电(AC Cycling)或关机/开机(Shutdown、Cold Boot及DC on/off)等操作,来验证计算机系统的电源相关电路是否稳定。然而,如果以人工来进行前述操作的执行,将耗费大量的人力及时间成本,且以人工来执行的操作亦具有测试精确度及测试稳定性不高的问题。据此,如何设计出可有效地对计算机系统进行前述操作的机具为业界不断致力的方向之一。

发明内容

本发明涉及一种测试机具,其被编程(Programmed)来对一待测系统进行断电/供电(AC Cycling)或关机/开机(Shutdown、Cold Boot及DC on/off)等测试操作。如此,相较于传统计算机系统的测试方案,本发明相关的测试机具可有效地避免以人工的方式来进行前述操作,并具有可节省人力与时间成本,及可提供高测试精确度及高测试稳定性的优点。

根据本发明的一方面,提出一种测试机具,用以对待测系统进行测试,待测系统具有第一传输接口电路、第二传输接口电路及电源开关。测试工具包括供电电路、状态检测电路及控制电路。供电电路包括供电单元及开关控制电路。供电单元用以根据市电电源信号提供测试电源信号。开关控制电路响应于控制信号周期性地驱动电源开关,以提供测试电源信号对待测系统供电。待测系统响应于测试电源信号为致能,以根据经由第一传输接口电路提供的系统程序数据进行系统开机操作。状态检测电路与第二传输接口电路耦接,用以响应于第二传输接口电路上的操作信号产生状态检测信号指示待测系统是否开机成功。控制电路用以提供控制信号,并对状态检测电路提供的状态检测信号进行处理。

为让本发明的上述内容能更明显易懂,下文特举一优选实施例,并配合附图,作详细说明如下:

附图说明

图1绘示依照本发明实施例的测试机具的方块图。

图2绘示图1的供电单元11a的详细方块图。

图3绘示图1的开关控制电路11b的详细方块图。

图4绘示图1的状态检测电路12的详细方块图。

图5绘示图1的控制电路13的详细方块图。

图6、图7、图8、图9、图10A、图10B、图11A及11B绘示图5的嵌入式系统ES所执行的测试操作的流程图。

图12绘示依照本发明实施例的测试机具的另一方块图。

【主要元件符号说明】

1、1′:测试机具

2:待测系统

11:供电电路

12:状态检测电路

13:控制电路

21:电源电路

22:电源开关

23:系统芯片

24、25:传输接口电路

11a:供电单元

11b:开关控制电路

IPC、OPC:输入连接端口、输出连接端口

OLP:过载保护电路

SSR1、SSR2:继电器

DT:电源检测器

MP:微处理器

RY:中继开关

DSC:双信号连接器

PT:传输接口连接端口

DTC:检测器

ES:嵌入式系统

HID:接口装置电路

Mo:显示器

3:远端监控系统

MY:存储器电路

具体实施方式

请参照图1,其绘示依照本发明实施例的测试机具(test device)的方块图。测试机具1例如用以对待测系统2进行断电/供电(AC Cycling)或关机/开机(Shutdown、Cold Boot及DC on/off)测试。举例来说,测试机具1为主机板(Mainboard)测试机台,待测系统2例如为待测试的主机板,其上具有电源电路21、电源开关22、系统芯片23、传输接口电路24及25。

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