[发明专利]非线性电路直流工作点的伪瞬态分析方法与装置

权利要求书

1.一种非线性电路直流工作点的伪瞬态分析方法，其特征在于包含如下步骤：

在该非线性电路内的每个MOS管的PN结上并联一并联电导，在这些MOS管的每个节点至地之间连接一旁路电导及一旁路电容；

将该并联电导和旁路电导的初值设为大于一预定的默设值；

将所有的独立源置零；

在该旁路电导和旁路电容所构成的时间常数的一特定倍数时间之内，逐渐升高独立源的数值至其原始的数值；

以逐渐缩小该旁路电导的方式进行伪瞬态分析，至最终完全去掉该旁路电导；

以逐渐缩小该并联电导的方式进行伪瞬态分析，至该并联电导等于其预定的默设值；及

检查是否恢复至原始状态且收敛，以判定是否已完成伪瞬态分析。

2.根据权利要求1所述的伪瞬态分析方法，其特征在于，在该逐渐缩小该并联电导的方式进行伪瞬态分析的步骤中，是以该旁路电导进行迭代后的结果作为其初值。

3.根据权利要求1所述的伪瞬态分析方法，其特征在于，在该将所有的独立源置零的步骤中进一步包含去除该非线性电路内除了该旁路电容以外的电容及电感。

4.根据权利要求1所述的伪瞬态分析方法，其特征在于，该检查是否恢复至原始状态且收敛的步骤是检查该旁路电容的电流是否小于一给定的误差。

5.根据权利要求1所述的伪瞬态分析方法，其特征在于，该并联电导和旁路电导的初值设为1e-9。

6.根据权利要求1所述的伪瞬态分析方法，其使用后退欧拉法对该非线性电路从零状态进行伪瞬态分析。

7.根据权利要求1所述的伪瞬态分析方法，其特征在于，若在分析过程中有不收敛或迭代次数超过一给定上限，则判定伪瞬态分析失败。

8.根据权利要求4所述的伪瞬态分析方法，其特征在于，当该旁路电容的电流小于一给定的误差，则当时的状态即代表非线性电路的直流工作点。

9.根据权利要求1所述的伪瞬态分析方法，其特征在于，该特定倍数是介于60至120之间。

10.一种非线性电路直流工作点的伪瞬态分析装置，其特征在于包含：

一预处理单元，在该非线性电路内的每个MOS管的PN结上并联一并联电导，在这些MOS管的每个节点至地之间连接一旁路电导及一旁路电容，将该并联电导和旁路电导的值设为大于一预定的默设值，且将所有的独立源置零；

一第一瞬态分析单元，其在该旁路电导和旁路电容所构成的时间常数的一特定倍数时间之内，逐渐升高独立源的数值至其原始的数值；

一第二瞬态分析单元，其以逐渐缩小该旁路电导的方式进行伪瞬态分析，至最终完全去掉该旁路电导，且以逐渐缩小该并联电导的方式进行伪瞬态分析，至该并联电导等于其预定的默设值；

一第一判定单元，检查是否恢复至原始状态且收敛，以判定是否已完成伪瞬态分析；及

一第二判定单元，连接至该第一瞬态分析单元及该第二瞬态分析单元，其在分析过程中若发现有不收敛或迭代次数超过一给定上限时，则判定伪瞬态分析失败。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，该第二瞬态分析单元是以该旁路电导进行迭代后的结果作为该并联电导进行迭代的初值。

12.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，该预处理单元进一步去除该非线性电路内除了该旁路电容以外的电容及电感。

13.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，该第一判定单元检查该旁路电容的电流是否小于一给定的误差，以判定是否已完成伪瞬态分析。

14.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，该预处理单元将该并联电导和旁路电导的初值设为1e-9。

15.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，该第一瞬态分析单元是使用后退欧拉法对该非线性电路从零状态进行伪瞬态分析。

16.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，该第一判定单元若在分析过程中发现该旁路电容的电流小于一给定的误差，则判定当时的状态即代表非线性电路的直流工作点。

17.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，该特定倍数是介于60至120之间。