[发明专利]液晶盒的倾角测定方法和装置无效
申请号: | 200910209083.4 | 申请日: | 2009-10-30 |
公开(公告)号: | CN101726884A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 杉田一纮;铜田知广 | 申请(专利权)人: | 大塚电子株式会社 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 液晶 倾角 测定 方法 装置 | ||
1.一种液晶盒的倾角测定方法,其特征在于:
从光源取出线偏振分量的光;
把该偏振分量的光照在液晶盒上以使得该光的光轴与上述液晶盒的法线成倾斜的角度;
测定透过上述液晶盒后出射的光中的、在与光的行进方向垂直的面内与上述偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度,求出光强度透射率;
用该光强度透射率、上述液晶的正常光折射率和异常光折射率、上述倾斜的角度以及上述液晶的厚度,求出上述液晶的倾角。
2.如权利要求1所述的液晶盒的倾角测定方法,其特征在于:
求出上述液晶的倾角的工序包括:
作为上述倾斜的角度的函数,求出上述液晶的上述倾角与把倾斜的液晶在上述液晶盒中的与光的行进方向垂直的面内投影时该投影面内的液晶的倾角的关系的第一工序;以及
作为上述光强度透射率的函数,求出上述液晶的上述倾角与把倾斜的液晶在上述液晶盒中的与光的行进方向垂直的面内投影时该投影面内的液晶的倾角的关系的第二工序。
3.如权利要求2所述的液晶盒的倾角测定方法,其特征在于:
上述第一工序中的函数包含液晶的折射率作为变量,上述第二工序中的函数包含上述正常光折射率与异常光折射率的折射率差和在液晶内部的光路长度分别作为变量。
4.如权利要求1或2所述的液晶盒的倾角测定方法,其特征在于:
上述液晶盒在一个像素内包含多个畴,
上述液晶按上述各个畴朝着不同的方向倾斜,
上述光强度透射率包含上述液晶盒的所有畴的面积中的、倾角朝着与上述光轴不平行的方向的畴的面积所占的比例作为系数。
5.如权利要求1或2所述的液晶盒的倾角测定方法,其特征在于:
上述光轴与上述液晶盒的法线所成的倾斜的角度在25度~80度的范围内。
6.如权利要求1或2所述的液晶盒的倾角测定方法,其特征在于:
上述光强度透射率是,用透过上述液晶盒后出射的光的光强度除透过上述液晶盒后出射的光的、与上述偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度而得到的。
7.如权利要求6所述的液晶盒的倾角测定方法,其特征在于:
用透过上述液晶盒后出射的光的、与上述偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度与透过上述液晶盒后出射的光的、与上述偏振分量平行的方向的偏振分量中的光强度的合计值,求出透过上述液晶盒后出射的光的光强度。
8.如权利要求1或2所述的液晶盒的倾角测定方法,其特征在于:
用作为波长的函数的上述液晶的正常光折射率和异常光折射率的数据、上述角度以及上述液晶的厚度,求以液晶分子的倾角作为参数的光强度透射率与波长的关系;
通过针对多个波长测定上述光强度透射率,对其测定点适用上述关系,求出倾角。
9.一种液晶盒的倾角测定装置,其特征在于包括:
从光源取出线偏振分量的偏振元件;
能够把该偏振元件的光照在液晶盒上以使得该光的光轴与上述液晶盒的法线成倾斜的角度的光轴设定装置;
取出透过上述液晶盒后出射的光的、在与光的行进方向垂直的面内与上述偏振分量成直角方向的偏振分量的检测元件;
测定透过上述检测元件后出射的光的光强度的检测器;
基于上述检测器检测出的光强度计算光强度透射率,用上述液晶的正常光折射率和异常光折射率、上述角度以及上述液晶的厚度,求出上述液晶的倾角的数据处理装置。
10.如权利要求9所述的液晶盒的倾角测定装置,其特征在于:
上述数据处理装置包括:
作为上述倾斜的角度的函数,求出上述液晶的上述倾角与把倾斜的液晶在上述液晶盒中的与光的行进方向垂直的面内投影时该投影面内的液晶的倾角的关系的第一处理装置;以及
作为上述光强度透射率的函数,求出上述液晶的上述倾角与把倾斜的液晶在上述液晶盒中的与光的行进方向垂直的面内投影时该投影面内的液晶的倾角的关系的第二处理装置。
11.如权利要求10所述的液晶盒的倾角测定方法,其特征在于:
上述第一处理装置中的函数包含液晶的折射率作为变量,上述第二处理装置中的函数包含上述正常光折射率与异常光折射率的折射率差和在液晶内部的光路长度分别作为变量。
12.如权利要求9或10所述的液晶盒的倾角测定装置,其特征在于:
还包括把透过上述检测元件后出射的光分光的分光器;
上述数据处理装置,用作为波长λ的函数的上述液晶的正常光折射率和异常光折射率、上述角度以及上述液晶的厚度,以液晶分子的倾角作为参数,求出光强度透射率与波长的关系,通过对针对多个波长测定的光强度透射率的测定点适用该关系,确定倾角。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大塚电子株式会社,未经大塚电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910209083.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。