[发明专利]光电探测器前置放大器电路频响参数测试系统和测试方法无效
| 申请号: | 200910199926.7 | 申请日: | 2009-12-04 |
| 公开(公告)号: | CN101726405A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
| 发明(设计)人: | 亓洪兴;李正文;杨俊;潘明忠;舒嵘 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
| 地址: | 20008*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光电 探测器 前置放大器 电路 参数 测试 系统 方法 | ||
1.一种光电探测器前置放大器电路频响参数测试系统,它包括可外部调制型光源(1)、锁相放大器(2)、信号发生器(3)、数据采集器(4)、计算机(5),其特征在于:可外部调制光源(1)的波长被待测光电探测器响应;信号发生器(3)产生的正弦电信号一分为二,一路电信号进入锁相放大器(2)的参考通道,另一路电信号对可外部调制型光源(1)进行光强调制,待测光电探测器及其前置放大器电路响应可外部调制型光源(1)的光强变化并产生相应的光电信号后输入到锁相放大器(2)的信号通道,锁相放大器(2)进行一次谐波检测,检测结果被数据采集器(4)采集,采集的数据由计算机显示和处理。
2.一种基于如权利要求1所述系统的光电探测器前置放大器电路频响参数测试方法,其特征在于包括如下步骤:
A.信号发生器(3)产生的正弦电信号一分为二,一路电信号进入锁相放大器(2)的参考通道,另一路电信号对可外部调制型光源(1)进行强度调制,调制过程中保持交变光强的幅值不变;
B.待测光电探测器及其前置放大器电路响应可外部调制型光源(1)的光强变化并产生相应的光电信号后输入到锁相放大器(2)的信号通道;
C.锁相放大器(2)对进入信号通道的光电信号进行一次谐波检测,检测结果被数据采集器(4)采集,通过计算机接口由计算机处理和显示;
D.在一定频率范围内连续改变信号发生器(3)输出的正弦调制信号的频率,锁相放大器输出对应频率的信号通道的一次谐波信号,也就是待测探测器对应于该频率的光强响应;利用简单的计算机程序就可以描绘出待测探测器放大器电路的频响曲线。
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