[发明专利]分束器相位测量装置无效
| 申请号： | 200910194928.7 | 申请日： | 2009-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN101634594A | 公开（公告）日： | 2010-01-27 |
| 发明（设计）人： | 万玲玉;周煜;职亚楠;孙建锋;刘立人 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 分束器 相位 测量 装置 | ||
1.一种分束器相位测量装置，特征在于其构成包括：两相互垂直的第一光束(1)和第二光束(2)入射待测非偏振分束器(3)，在该待测非偏振分束器(3)两相互垂直的输出光束方向分别设置第一偏振分光棱镜(4)和第二偏振分光棱镜(5)，所述的第一偏振分光棱镜(4)和第二偏振分光棱镜(5)是把输入光分成两个偏振态相互垂直的线偏振光的分束器，在所述的第一偏振分光棱镜(4)的两个输出光束方向分别设置第一光电探测器(6)和第二光电探测器(7)，在所述的第二偏振分光棱镜(5)的两个输出光束方向分别设置第三光电探测器(8)和第四光电探测器(9)，所述的第一光电探测器(6)、第二光电探测器(7)、第三光电探测器(8)和第四光电探测器(9)的输出端接示波器(10)的输入端。
2.根据权利要求1所述的分束器相位测量装置，其特征在于所述的待测非偏振分束器是包括分光镜、普通分光平片、普通分光棱镜、消偏振分光棱镜、二向色消偏振分光棱镜或消偏振分光平片。
3.一种分束器相位测量装置，特征在于其构成包括：两相互垂直的第一光束(1)和第二光束(2)入射待测偏振分束器(31)，在该待测偏振分束器(31)的两相互垂直的输出光束方向分别设置所述的第一偏振分光棱镜(4)和第二偏振分光棱镜(5)，所述的第一偏振分光棱镜(4)和第二偏振分光棱镜(5)是把输入光分成两个偏振态相互垂直的线偏振光的分束器，在所述的待测偏振分束器(31)和第一偏振分光棱镜(4)之间设置第一1/2波片(15)，在所述的待测偏振分束器(31)和第二偏振分光棱镜(5)之间设置第二1/2波片(16)，所述的第一二分之一波片(15)、第二二分之一波片(16)的快轴或慢轴分别与第一偏振分光棱镜(4)、第二偏振分光棱镜(5)的主截面成22.5度角放置，在所述的第一偏振分光棱镜(4)的两个输出光束方向分别设置第一光电探测器(6)和第二光电探测器(7)，在所述的第二偏振分光棱镜(5)的两个输出光束方向分别设置第三光电探测器(8)和第四光电探测器(9)，所述的第一光电探测器(6)、第二光电探测器(7)、第三光电探测器(8)和第四光电探测器(9)的输出端接示波器(10)的输入端。
4.根据权利要求3所述的分束器相位测量装置，其特征在于所述的待测偏振分束器(31)为偏振分光平片、偏振分光棱镜或二向色分光棱镜。
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