[发明专利]一种用于测量太赫兹光脉冲的电光取样装置及测量方法

权利要求书

1.一种用于测量太赫兹光脉冲的电光取样装置，包括起偏器和电光取样晶体，其特征在于，所述电光取样装置还包括：分束器、第一相位补偿器、第二相位补偿器、第一检偏器、第二检偏器以及平衡探测器；

探测光经过所述起偏器后变成线性偏振光并与太赫兹光脉冲在所述电光取样晶体内部重合；

所述分束器将透过所述电光取样晶体的被所述太赫兹光脉冲调制后的探测光分成两路；一路依次经过所述第一相位补偿器以及所述第一检偏器被所述平衡探测器的第一接收器接收；另一路依次经过所述第二相位补偿器以及所述第二检偏器被所述平衡探测器的第二接收器接收；

所述平衡探测器的输出正比于所述第一接收器以及所述第二接收器接收的被所述太赫兹光脉冲调制后的探测光的功率差、且正比于所述太赫兹光脉冲的光场振幅。

2.如权利要求1所述的电光取样装置，其特征在于，所述第一检偏器与所述第二检偏器分别与所述起偏器呈近正交设置。

3.如权利要求1所述的电光取样装置，其特征在于，通过所述第一相位补偿器以及第一检偏器后的探测光的静态双折射相位值与通过所述第二相位补偿器以及第二检偏器后的探测光的静态双折射相位值互为相反数。

4.如权利要求1所述的电光取样装置，其特征在于，所述分束器为偏振无关宽带分束器，所述偏振无关宽带分束器将透过所述电光取样晶体的被所述太赫兹光脉冲调制后的探测光等分成两路。

5.一种采用权利要求1所述的电光取样装置测量太赫兹光脉冲的方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：

探测光经过所述起偏器后变成线性偏振光并与太赫兹光脉冲在所述电光取样晶体内部重合；

分束器将透过所述电光取样晶体的被所述太赫兹光脉冲调制后的探测光分成两路；一路依次经过所述第一相位补偿器以及所述第一检偏器被所述平衡探测器的第一接收器接收；另一路依次经过所述第二相位补偿器以及所述第二检偏器被所述平衡探测器的第二接收器接收；

通过调节所述第一相位补偿器使通过第一相位补偿器的探测光工作在最佳光学调制度点处；并通过调节所述第二相位补偿器使得经过所述第一检偏器的探测光的静态双折射相位值与经过所述第二检偏器的探测光的静态双折射相位值互为相反数；

平衡探测器的输出正比于所述第一接收器以及所述第二接收器接收的被所述太赫兹光脉冲调制后的探测光的功率差、且正比于所述太赫兹光脉冲的光场振幅。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括步骤：

通过扫描探测光与所述太赫兹光脉冲的相对延时获得太赫兹光脉冲的光场时域特性，进而得到相应的频域特性。

7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一检偏器与所述第二检偏器分别与所述起偏器呈近正交设置。