[发明专利]标本分析仪有效
| 申请号: | 200910180078.5 | 申请日: | 2009-10-26 |
| 公开(公告)号: | CN101726610A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
| 发明(设计)人: | 近藤启太郎 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
| 主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01F23/22 |
| 代理公司: | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人: | 刘良勇 |
| 地址: | 日本兵库县神户市*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 标本 分析 | ||
1.一种标本分析仪,包括:
试剂配置部件,用于配置盛放试剂的多个试剂容器;
测量器件,用于测算反映配置在所述试剂配置部件的试剂容器内 的试剂量的值;
接受单元,接受获取所述试剂配置部件上的试剂容器内试剂余量 的指示;
测算控制单元,当所述接受单元受理所述指示时,控制所述测量 器件测算反映所述试剂配置部件上的试剂容器内的试剂量的值;
试剂余量获取单元,根据所述测量器件的测算结果,获取表示所 述测量器件测算的所述试剂容器内的试剂余量的试剂余量信息;
存储部件,用于存储所述试剂余量获取单元获取的所述试剂余量 信息;
测定开始钮,用于接受标本的测定开始指示;及
检测器,检测出有关由标本和配置于所述试剂配置部件的试剂容 器内的试剂制备的测定试样中所含的一定成份的信息;其中
所述测算控制单元当所述接受单元受理了所述指示时,对于所述 试剂配置部件中配置的多个试剂容器,控制所述测量器件有选择地测 算反映所述存储部件中未存有试剂余量信息的试剂容器内的试剂量 的值。
2.权利要求1所述标本分析仪,还包括:
显示器;及
显示控制单元,控制所述显示器显示标有可由用户指定的指定按 钮的显示界面,其中
所述接受单元当所述指定按钮被指定时受理所述指示。
3.权利要求1所述标本分析仪,还包括:
显示器;
显示控制单元,控制所述显示器显示所述试剂余量获取单元获取 的所述试剂余量信息;及
更换指示接受单元,接受更换配置在所述试剂配置部件的试剂容 器的指示,其中
所述显示控制单元在所述更换指示接受单元接受所述更换指示 后,从所述显示器删除该更换指示接受单元收到所述更换指示的该试 剂容器的试剂余量信息。
4.权利要求1所述标本分析仪,其特征在于:
所述试剂配置部件上配置有用于装试剂的第一试剂容器;及
所述标本分析仪还包括:
显示器;
显示控制单元,控制所述显示器显示所述试剂余量获取单元获取 的所述试剂余量信息;
识别信息获取部件,获取识别配置于所述试剂配置部件上的试剂 容器的识别信息;及
判断单元,根据所述识别信息获取部件获取的所述识别信息,判 断不同于所述第一试剂容器的第二试剂容器是否新置于所述第一试 剂容器配置在所述试剂配置部件的配置位置,其中
当所述判断单元断定所述试剂配置部件上配置所述第一试剂容 器的位置新配置了所述第二试剂容器时,所述显示控制单元从所述显 示器删除所述第一试剂容器的试剂余量信息。
5.权利要求1所述标本分析仪,还包括:
显示器;
显示控制单元,控制所述显示器显示所述试剂余量获取单元获取 的所述试剂余量信息;及
删除指定接受单元,接受对要删除显示在所述显示器的试剂余量 信息的试剂容器的指定,其中
在所述删除指定接受单元接受对要删除试剂余量信息的试剂容 器的指定后,所述显示控制单元从所述显示器上删除该试剂容器的试 剂余量信息。
6.权利要求1所述标本分析仪,其特征在于:
所述测量器件包括探测配置于所述试剂配置部件的试剂容器内 的试剂液面的第一液面探测部件;
所述测算控制单元当所述接受单元受理所述指示后,控制所述第 一液面探测部件探测配置于所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂 液面;
所述试剂余量获取单元根据所述第一液面探测部件探测的结果, 取得表示配置于所述试剂配置部件的试剂容器内的试剂余量的试剂 余量信息。
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