[发明专利]测试电路和片上系统

说明书

本申请是申请日为2006年2月5日、申请号为200610007145.X、发明 名称为“使用最少引脚而被测试的半导体器件、以及测试其的方法”的发明专 利申请的分案申请。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2005年2月3日提交的韩国专利申请第2005-10048号以 及于2005年2月4日提交的韩国专利申请第2005-10748号的优先权，通过 引用将其内容合并于此。

技术领域

本发明涉及一种片上系统(system-on-chip)和测试其的方法，并且，更 具体地，涉及一种能够通过使用一个测试引脚或不需要任何测试引脚而被测 试的片上系统、以及测试其的方法。

背景技术

通常，片上系统尺寸和功耗可由于引脚被添加到芯片上而增加。因此， 最好减少或移除仅用于测试器件的一个或多个测试引脚。

在引脚仅被提供用来接收时钟信号和复位信号的图像芯片的情况中，不 存在用于在测试期间根据测试向量而接收测试信号的备用引脚。由此，需要 一个或多个引脚来测试图像芯片。

此外，需要开发新技术以在不需要附加测试引脚的情况下设置各种测试 模式，这是因为在具有少量引脚的芯片(如仅使用功能引脚作为测试引脚的 图像芯片)中设置各种测试模式是很复杂的。

由于例如移动设备的电子设备要求最小化的尺寸，所以，期望在电子设 备中使用的芯片的尺寸减小。在减小芯片尺寸的情况中，适当地将诸如数据 输入/输出引脚和电源引脚的输入/输出引脚排列在一侧或两侧上是很复杂的。 由此，消除测试引脚是有益的。另外，用于便携式电子设备中的芯片的测试 项已增加，从而导致包括更多的测试引脚。

图1示出了具有在其三个侧面上布置的测试引脚的传统片上系统的引脚 排列，而图2示出了具有在其两个侧面上布置的测试引脚的传统片上系统的 引脚排列。

图1中的芯片具有：例如四个的多个测试引脚TEST_1至TEST_4、RESET 引脚；CLK引脚、以及多个输入/输出引脚IO_1至IO_7。输入/输出引脚IO_1 至IO_7专用于操作的正常模式。图2中的芯片具有测试引脚TEST、复位引 脚RESET、时钟引脚CLK、以及多个输入/输出引脚IO_1至IO_7。输入/输 出引脚IO_1至IO_7的一部分可用于操作的测试模式。如果芯片具有更少的 输入/输出引脚，则基于图2的测试系统而执行操作的测试模式是很复杂的。

发明内容

本发明的一个方面提供了一种能够使用一个测试引脚而被测试的片上系 统、以及测试其的方法。

根据本发明的此方面的半导体器件包括：测试引脚，用于输入/输出测试 数据；操作模式控制器，用于响应于外部复位信号和时钟信号而激活使能信 号；操作模式存储装置，用于响应于使能信号，通过测试引脚而与时钟信号 相同步地接收串行数据；以及操作模式解码器，用于响应于存储在操作模式 存储装置中的串行数据而生成操作模式选择信号。

在一个示范实施例中，操作模式控制器包括：位计数器，用于响应于复 位信号的低至高逻辑电平转换，而在时钟信号的上升沿计数；以及比较器， 用于将位计数器的输出值与操作模式数相比较，以在该输出值小于操作模式 数时激活使能信号。在此实施例中，通过串行数据来确定操作模式数。

在一个示范实施例中，从复位信号的低至高逻辑电平转换直到计数值达 到操作模式数为止，使能信号处于高逻辑电平。

在一个示范实施例中，操作模式存储装置响应于来自操作模式控制器的 使能信号，与时钟信号相同步地对串行数据移位。

在一个示范实施例中，将操作模式存储装置设为指示操作模式。

在一个示范实施例中，将操作模式存储装置设为指示属于操作模式的低 级操作模式和测试目标。在此实施例中，测试目标是要测试的半导体器件中 的组件。

在一个示范实施例中，测试目标包括输入/输出接口、存储器和内部逻辑。

在一个示范实施例中，复位信号与时钟信号CLK的下降沿相同步地从低 转换至高逻辑电平。

在一个示范实施例中，操作模式包括正常操作模式，其中，半导体器件 执行正常功能，并且，在移位寄存器中指示正常操作模式。