[发明专利]信号处理装置与信号处理方法

说明书

技术领域

本发明涉及从光存储介质读取信息，尤其涉及信号处理 装置与信号处理方法。

背景技术

光存储介质，例如只读、可录式或可再写光盘，已经成为 流行的数据载体。通过发射具有适当功率的激光束至光存储介质 的记录层(例如反射层)，然后检测反射自记录层的信号，来读取 记录层以再现已储存数据。举例来说，为了保护记录层，于记录 层之上形成由聚碳酸酯构成的保护层。因此，雷射二极管发出的 激光束需要先通过保护层后才能够到达记录层；类似的，记录层 反射的激光束需要先通过保护层后才能够被光读取头检测到。因 此，光读取头检测到的反射激光束的信号质量实际上受到保护层 的影响。然而，由于保护层表面上的刮痕、灰尘或指纹的影响， 光存储介质，例如光盘，可能产生缺陷区域。

对于当前高密度光盘驱动器(例如蓝光光盘驱动器)，更小 的轨距使得更加难以执行伺服控制。特别的，当光盘上存在缺陷 区域时，伺服控制机制(包括焦点控制回路与追踪控制回路)通常 会在每个缺陷区域的开始位置与末端位置附近应用不适当的伺 服控制努力，导致极大的降低了光盘数据读取性能。图1为缺陷 信号S1、伺服输出信号(例如追踪伺服输出TRO或焦点伺服输 出FOO)S2以及射频(Radio-Frequency，RF)信号S3的波形示意 图，当光盘驱动器的光读取头存取具有缺陷区域的光盘时产生缺 陷信号S1、伺服输出信号S2以及射频信号S3。传统光盘驱动 器中，当缺陷信号S1指示光读取头存取缺陷区域时，实施一种 保护机制以保持伺服控制的设置。通常，产生缺陷信号S1以实 时检测光盘上的缺陷区域，并且在理想情况下缺陷信号S1具有 从第一逻辑电平(例如“0”)至第二逻辑电平(例如“1”)的第一变迁 (transition)以及从第二逻辑电平(例如“1”)至第一逻辑电平(例如 “0”)的第二变迁，第一变迁指示已检测缺陷区域的开始点，第二 变迁指示已检测缺陷区域的终止点。然而，缺陷信号S1具有上 升沿(即从第一逻辑电平至第二逻辑电平的变迁以指示缺陷区域 的开始点)时的时序与定位光读取头于缺陷区域的实际开始点时 的时序之间可能会存在延迟。由于光盘上正常区域与缺陷区域之 间的不同反射特性，伺服控制机制对缺陷信号S1在时间T1具 有上升沿之前应用第一伺服控制努力FOO1/TRO1并对缺陷信号 S1在时间T2具有下降沿之后应用第二伺服控制努力 FOO2/TRO2。当用于指示已检测缺陷区域的开始点的缺陷信号 S1的变迁产生过晚时，第一伺服控制努力FOO1/TRO1的量度变 得很大导致激光束的焦点/追踪点严重偏移正确的位置。因此， 当光读取头离开缺陷区域时，第二伺服控制努力FOO2/TRO2变 得更大使得错误偏移的焦点/追踪点移动至正确的位置，导致射 频信号S3中产生严重的失真并可导致紧接缺陷区域后的正常区 域的读取失败。

因此，如何避免或减轻由于光盘上形成缺陷区域应用不 适当的伺服控制努力而产生的信号质量退化是一个有待解 决的重要问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供信号处理装置与信号处理方法。

一种信号处理装置，包括：处理电路和信号产生电路。所述 处理电路根据缺陷信号决定光存储介质上至少一个缺陷区域的 位置并且相应的记录所述至少一个缺陷区域的缺陷位置信息，所 述处理电路包括：计数器，计算所述光存储介质的每个完整旋转 以产生计数器值，所述计数器值指示所述光存储介质上的相应位 置；以及存储器，通过储存相应于所述至少一个缺陷区域的计数 器值来记录所述至少一个缺陷区域的所述缺陷位置信息。所述信 号产生电路，耦接于所述处理电路，所述信号产生电路包括：调 整单元，通过至少第一调整值调整相应于所述至少一个缺陷区域 的已储存计数器值，以产生至少第一已调整计数器值；比较单元， 耦接于所述计数器与所述调整单元并且用于将由所述计数器当前 计算得到的计数器值与所述第一已调整计数器值进行比较；以及 信号产生单元，耦接于所述比较单元，所述信号产生单元根据所 述比较单元产生的比较结果产生特定信号并且根据至少所述特 定信号产生输出信号。