[发明专利]光学式快速检测试剂分析仪

权利要求书

1.一种光学式快速检测试剂分析仪，是搭配一载放呈色芯片的载具，其特征在于：包括：

主体，具有一底座以及一组合于该底座而形成内部容置空间的上盖；

成像单元，设置于该主体的内部容置空间中；

光学反射单元，以一可反射呈色芯片影像至该成像单元的角度设置于该主体的内部容置空间中，并以一符合成像焦距的距离相邻于该成像单元；

移动模块，可往复移动地设置于该主体的内部容置空间中并位于该光学反射单元下方的位置，其具有一放置该载具的移载座体。

2.如权利要求1所述之光学式快速检测试剂分析仪，其特征在于：更包括两分别设于该主体的内部容置空间两侧的成像单元固定柱体以及一设置于该两成像单元固定柱体上的成像单元设置架，该成像单元设置于该成像单元设置架之上。

3.如权利要求2所述之光学式快速检测试剂分析仪，其特征在于：更包括两分别设于该主体的内部容置空间两侧并与该两成像单元固定柱体等高的光学反射单元固定柱体以及一设置于该两光学反射单元固定柱体上的光学反射单元设置架，该光学反射单元系设置于该光学反射单元设置架之上。

4.如权利要求3所述之光学式快速检测试剂分析仪，其特征在于：其中该移动模块更包括一设置于该两光学反射单元固定柱体之间并连结于该移载座体的滑轨、一连结于该移载座体并移动于该滑轨的移动齿轮以及一设置于该移载座体下方并啮合于该移动齿轮的齿条。

5.如权利要求1或4所述之光学式快速检测试剂分析仪，其特征在于：其中该光学反射单元为一平面镜。

6.如权利要求1或4所述之光学式快速检测试剂分析仪，其特征在于：其中该成像单元为光电二极管(photo diode)、金氧互补式半导体(CMOS)或电荷耦合组件(CCD)。

7.如权利要求5所述之光学式快速检测试剂分析仪，其特征在于：其中该成像单元为光电二极管(photo diode)、金氧互补式半导体(CMOS)或电荷耦合组件(CCD)。