[发明专利]影像传感器结构及其制法有效

专利信息
申请号: 200910174746.3 申请日: 2009-09-17
公开(公告)号: CN102024829A 公开(公告)日: 2011-04-20
发明(设计)人: 余政宏 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H04N5/335
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邱军
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 影像 传感器 结构 及其 制法
【权利要求书】:

1.一种影像传感器结构,包括:

基底;

传感元件阵列,其设置于该基底表面;

介电层,其覆盖该传感元件阵列,该介电层包括上表面,该上表面包括凹盘结构;

底层,其填入于该凹盘结构,该底层具有折射率,该折射率大于该介电层的折射率;

滤光片阵列,设置于该底层上,对应该传感元件阵列;及

微透镜阵列,对应设置于该滤光片阵列上。

2.如权利要求1所述的影像传感器结构,其中该传感元件阵列为光传感单元阵列。

3.如权利要求1所述的影像传感器结构,其中该底层的折射率为1.5至1.6。

4.如权利要求1所述的影像传感器结构,其中该底层的折射率小于该等微透镜的折射率。

5.如权利要求1所述的影像传感器结构,其中该底层为粘着层,并且其顶部平坦。

6.如权利要求1所述的影像传感器结构,进一步包括遮蔽层,其设置于该介电层内,并围绕该凹盘结构。

7.如权利要求6所述的影像传感器结构,其中该遮蔽层包括金属材料。

8.如权利要求6所述的影像传感器结构,其中该遮蔽层包括至少一环形结构。

9.如权利要求8所述的影像传感器结构,其中该遮蔽层包括多层环形结构,及该遮蔽层的分布密度由外往中心逐渐减少。

10.如权利要求6所述的影像传感器结构,其中该遮蔽层包括多个区段。

11.如权利要求10所述的影像传感器结构,其中该遮蔽层的分布密度由外往中心逐渐减少。

12.如权利要求1所述的影像传感器结构,其中该等微透镜位于边缘的形状与位于中心的形状不相同。

13.如权利要求1所述的影像传感器结构,其中该等微透镜位于边缘的节距与位于中心的节距不相同。

14.如权利要求1所述的影像传感器结构,其中该等滤光片位于边缘的节距与位于中心的节距不相同。

15.如权利要求1所述的影像传感器结构,进一步包括顶层,其设置于该等滤光片上而包覆该等滤光片,并包括与该底层相同的材料。

16.一种制造影像传感器结构的方法,包括:

提供基底;

在该基底表面形成传感元件阵列;

形成介电层覆盖于该传感元件阵列及该基底上;

将该介电层的上表面形成凹盘结构;

在该凹盘结构中填入底层,该底层具有折射率,该折射率大于该介电层的折射率;

在该底层上形成滤光片阵列;以及

在该滤光片阵列上形成微透镜阵列。

17.如权利要求16所述的制造影像传感器结构的方法,进一步在该介电层内围绕该凹盘结构之处形成遮蔽层结构。

18.如权利要求16所述的制造影像传感器结构的方法,其中将该介电层的上表面形成该凹盘结构是进行CMP工艺研磨该介电层而达成。

19.如权利要求18所述的制造影像传感器结构的方法,在进行该CMP工艺之前,进一步包括:

在该介电层上围绕该凹盘结构之处形成研磨停止层。

20.如权利要求16所述的制造影像传感器结构的方法,其中将该介电层的上表面形成该凹盘结构,包括下列步骤:

进行CMP工艺研磨该介电层,使该介电层的上表面形成盘凹形状;及

对该介电层进行蚀刻工艺以控制该盘凹形状的深度,以形成该凹盘结构。

21.如权利要求16所述的制造影像传感器结构的方法,进一步在该等滤光片上形成顶层以包覆该等滤光片,其中该顶层包括与该底层相同的材料。

22.如权利要求16所述的制造影像传感器结构的方法,其中该传感元件阵列为光传感单元阵列,及该光传感单元阵列与该滤光片阵列互相对应。

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