[发明专利]光学电压测量设备无效
| 申请号： | 200910174389.0 | 申请日： | 2009-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN101672868A | 公开（公告）日： | 2010-03-17 |
| 发明（设计）人： | 高桥正雄;佐藤纯一 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R15/22 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 邬少俊;王 英 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学 电压 测量 设备 | ||
【权利要求书】：
1、一种光学电压测量设备，其特征在于包括：
主电路导体；
电介质体，其绝缘地支撑所述主电路导体并固定到接地构件；
掩埋在所述电介质体中的掩埋电极；以及
电光元件，其连接到所述掩埋电极并测量所述主电路导体的电压，
其中，将通过所述主电路导体和所述掩埋电极之间生成的静电电容与 所述掩埋电极和所述接地构件之间生成的静电电容之间的静电电容比所分 的电压施加到所述电光元件。
2、根据权利要求1所述的光学电压测量设备，其特征在于，所述主电 路导体和所述掩埋电极之间生成的静电电容以及所述掩埋电极和所述接地 构件之间生成的静电电容暴露于相同环境中。
3、根据权利要求1或2所述的光学电压测量设备，其特征在于，所述 掩埋电极和所述接地构件被设置成共轴电极布置。
4、根据权利要求1或2所述的光学电压测量设备，其特征在于，所述 电介质体是环氧树脂。
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