[发明专利]光学储存系统以及盘片写入数据的方法

说明书

技术领域

本发明有关于光学储存系统包括光驱和主机，特别是指盘片上写入数据的方法、或计算机程序产品和计算机可读的媒介。

背景技术

在一光驱中，光学读取单位(OPU)可用于将盘片上的数据读出或写入数据于盘片上。光学读取单位产生激光束以扫描盘片表面，并从盘片上读出数据或将数据写入盘片。盘片包括有CD、DVD、BD、HD-DVD和DVD-RAM等等，而且盘片是一具交换性且便宜的数据存储媒介。

盘片由数层组成，其至少包括二功能层。第一层是数据层，包括数据或可被写入的部分。第二层是保护层。这保护层基本上是一基板，使保护层与外界分隔并保护数据层。光学读取单位将激光光穿过保护层以便从数据层读写数据。

光驱可由一主机控制，例如在个人计算机的软件工具可控制一内部光驱。主机和光驱可共同形成一光学储存系统。

盘片是由全世界许多不同的制造商所生产。由于大量生产的结果，盘片的质量会出现变异，因此虽然盘片必须符合其严密的规格，然而对光驱制造商而言，其无法做到放入的盘片的质量控管。因此，不同盘片的质量将影响其执行读出/写入程序的质量。

同样地，光驱应符合一定的质量标准，以读取盘片。然而在光驱的生命周期中，光驱被暴露于数个可导致恶化的情况，如温湿度太高、空气中粉尘太多等，因此光驱的写入和读取质量可能恶化。

因此，盘片和光驱的质量可决定最大可达成读取和写入的质量。

光驱在完成写入动作以后，已写入的数据可由逻辑位准验证其写入质量。这个验证由在主机的控制的下的光驱所执行。验证的结果是“OK”或“NOT OK”，亦即具有良好的写入质量或较差的写入品质。然而必须直到完成了写入和验证之后，使用者才能得到关于写入动作是否是成功与否的指示。

对主机而言，唯一有效的较早期指示是在一开始写入程序的误差，比如不合格的最佳化刻录功率校正(Optimum Power Calibration，OPC)程序。“OPC程序”一词通常指于数据写入盘片前或写入程序期间失败时，会执行该OPC程序以得到较佳的刻录功率，之后可执行进一步的写入动作，以得到较佳的写入质量。OPC程序将于之后详述。

然而，随着不同的盘片质量和不同的光驱等，写入程序的质量可随使用者的目的而产生变化。例如，刻录一数据盘片以供档案交换或者刻录个人或机密的数据盘片以供永久保存，这两者对于写入质量的要求度就会不一样。

正如写入程序的质量可出现变化一般，执行某一写入程序所需时间亦然。由于写入时间的变化性，所需的写入时间变化可能很多。例如，提供给使用者的写入时间指示可根据目前写入表现和根据光驱的写入方式(即CAV、CLV或者ZCLV写入)来表示。然而，写入后验证(Verify After Write，VAW)技术以及写入后快速验证(Fast Verify After Write，FVAW)技术，将影响完成写入程序所需时间，从而使得预测写入时间变得更加不可靠。写入后快速验证(FVAW)技术可见于美国专利US 11/845,951和US12/165,117中述及。而FVAW技术可视的为VAW技术的变化，且关于VAW和FVAW技术将于之后详细说明。

此外，盘片瑕疵会让写入时间预测变得非常不精确或在写入期间的时，写入时间指示改变幅度会很大。特别是BD盘片对盘片瑕疵非常灵敏。虽然已采取数个方式以减少盘片瑕疵所带来的风险(比如使用坚硬的表面层以减少盘片抓痕)，然而盘片瑕疵可能仍旧存在。某些瑕疵比如灰尘或指印可以容易地去除，其它类型的瑕疵则不可能被移除，某些盘片瑕疵(比如盘片中的腐蚀)在当前阶段可能不致于产生问题，但将在稍后阶段，比如在长时间贮存后，会造成回读或记录问题。此外，当从旧的、被存放的盘片中读取，写入在新的、可重复写的盘片或在盘片上增加区段时，盘片瑕疵的影响将会变得明显。

盘片瑕疵出现可导致盘片的容量少于期望值。而且当使用VAW或FVAW技术以写入时，因为需要时间执行替换，写入时间可出现变化。盘片瑕疵亦导致较差的读写表现和较差的数据可靠度。根据一公知技术的做法，主机会在盘片上写入多个(重复)拷贝数据以增加数据的可靠度。

另外，不同的光驱或不同的盘片或许需要不同的激光功率以写入盘片。但激光功率通常受限于一预设的最大数值。虽然每种盘片类型和速度有其标准(比如40x CD-R、16x DVD+R)并定义了其最大写入盘片功率[mW]，然而并不保证光驱可以使用目标速度与充足的功率以写入盘片。