[发明专利]以太端口的性能测试方法及装置有效

专利信息
申请号: 200910171871.9 申请日: 2009-09-11
公开(公告)号: CN101651569A 公开(公告)日: 2010-02-17
发明(设计)人: 吴建华 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04L12/24 分类号: H04L12/24;H04L12/56
代理公司: 北京市浩天知识产权代理事务所 代理人: 许志勇
地址: 518057广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 以太 端口 性能 测试 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及交换机数据通信领域,尤其涉及应用于分组传送网设备 (Packet Transport Network,简称PTN)的以太端口的性能测试方法及装置。

背景技术

数据交换设备在产线完成加工后,需要在高温房进行满流量极限测试, 以验证设备的高温老化性能,尤其是以太端口的高温满流量负载性能。低端 数据产品普遍采取的是静态高温老化测试的方式,即在高温箱中放置24小 时,没有进行任何操作与负载,测试效率和有效性都不高。

而动态高温老化的方式,对设备进行高温烘烤的同时,让设备按照一定 的策略运行起来,关键芯片都处于工作状态,并有一定的负荷。这样高温后 的调测,只需要测试高温环境下无法测试的项目,或进行简单抽测,提高了 测试效率和测试有效性。

对数据设备以太端口进行满业务流量负荷测试,就是其中非常重要的一 项。在高温环境下,对各以太端口加载满流量的业务报文,通过长期性能数 据分析,验证其高温老化性能和满流量下丢包等性能。为了使得进入待测端 口的数据能够达到满流量极限,通常采取的做法是将待测端口与数据测试仪 连接,发送满流量数据包。这种方案的缺陷是,设备批量生产测试时数目较 多,需要大量的数据测试仪,需要人工干预,进行烦杂的连线及仪表配置等 工作;而且高温环境对于昂贵的数据测试仪也是一种较大的损耗,测试成本 很高。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种以太端口极限流量下的性能测 试方法及装置,解决现有技术中需要大量的数据测试仪,需要人工干预,进 行烦杂的连线及仪表配置等工作等问题。

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种以太端口的性能测试方法, 该方法包括以下步骤:

待测数据设备的中央处理器自动创建一个测试流域;

待测数据设备的中央处理器向所述待测数据设备的待测以太端口发送 至少一个广播数据包;

在单个端口环回装置的控制下,所述广播数据包在所述测试流域进行转 发,以进行性能测试。

所述测试流域包括:多个逻辑端口,所述多个逻辑端口映射到同一个物 理端口。

所述广播数据包在所述测试流域进行转发具体包括:所述待测以太端口 接收到所述广播数据包后,向所述测试流域内映射到同一物理端口的所有所 述逻辑端口转发。

所述同一个物理端口为所述待测数据设备的所述待测以太端口。

所述单个端口环回装置的以太端口采用RJ45接口,数据传输采用差分 信号。

所述的以太端口的性能测试方法还包括:将创建的所述测试流域删除。

本发明还提供了一种以太端口的性能测试装置,该装置包括:

待测数据设备,用于自动创建一个测试流域;以及向所述待测数据设备 的待测以太端口发送一个广播数据包;

单个端口环回装置,与所述待测数据设备连接,用于在其控制下,所述 广播数据包在所述测试流域进行转发。

所述测试流域包括:多个逻辑端口,所述多个逻辑端口映射到同一个物 理端口。

所述同一个物理端口为所述待测数据设备的所述待测以太端口。

所述单个端口环回装置的以太端口采用RJ45接口,数据传输采用差分 信号。

因此,本发明提出只让CPU发少量的包,甚至是一个包,通过单个端 口广播风暴的方式,使以太端口测试达到满流量要求,在不使用数据测试仪 的情况下,实现了风暴的快速启停控制,支持多个端口并行测试互不影响。

附图说明

图1为本发明一种以太端口的性能测试方法的流程图。

图2为本发明单个端口环回装置的示意图。

图3为本发明单端口广播风暴诱发机理示意图。

具体实施方式

下面通过附图和实施例,对本发明实施例的技术方案做进一步的详细描 述。

为了在不使用数据测试仪的情况下,对以太端口进行满流量自动发包测 试,本发明提出了一种以太端口的性能测试方法及装置。

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