[发明专利]显示装置及其驱动方法

说明书

相关申请的参考

本申请包含涉及于2008年8月27日向日本专利局提交的日本 优先权专利申请JP 2008-217520中所披露的主题，将其全部内容结 合于此作为参考。

技术领域

本发明涉及一种驱动装置以及一种驱动其的方法，更具体地， 涉及一种用于驱动缺陷元件的技术(实际上是用于对其修复的措 施)。

背景技术

各种类型的电子设备包括利用电光元件(electro-optical element)作为像素显示元件的显示装置，其中电光元件的亮度随着 施加至其的电压或通过其的电流而改变。例如，液晶显示元件是典 型的亮度随着施加至其的电压而变化的电光元件。亮度随着通过其 的电流而变化的电光元件的典型实例包括普通LED(发光二极管) 以及有机电致发光元件和有机发光二极管(OLED)，在下文中将有 机电致发光元件与有机发光二极管统称为有机EL元件。利用后者 (即普通LED或有机EL元件)的显示装置是所谓的自发光显示器， 其利用自发光电光元件作为像素的显示元件。

如下来使电光元件发光。例如，在有源矩阵型元件的情况下， 通过视频信号线提供的输入图像信号被存储在保持电容(其可选地 被称作像素电容)中，该保持电容设置在利用例如开关晶体管(其 可以被称作取样晶体管)的驱动晶体管的栅极端(控制输入端)， 并且根据所存储的输入图像信号将驱动信号提供给电光元件。在无 源矩阵型元件的情况下，电光元件设置在列扫描线和行扫描线间的 交叉处，并且通过提供给该列扫描线和行扫描线的驱动信号对该电 光元件进行驱动。

在利用液晶显示元件作为电光元件的液晶显示装置中，由于液 晶显示元件是电压驱动元件，所以与保持电容中所存储的输入图像 信号相应的电压信号照原样地被用来驱动液晶显示元件。相反，在 利用诸如有机EL元件的电流驱动元件作为电光元件的有机EL显 示装置中，利用驱动晶体管，使与保持电容中存储的输入图像信号 相应的驱动信号(电压信号)转换为电流信号，并且将该驱动电流 提供给有机EL元件等。

然而，由于与面板的制造或在运输之后该面板使用方式相关的 原因，电光元件可能变为不正常地发光的像素。因此，面板可能具 有会降低面板产率的缺陷元件。这类显示缺陷构成妨碍显示装置的 无缺陷率提高的一个因素，并且因此妨碍了这些显示装置的成本降 低。缺陷也可能在产品运输之后出现，并且降低了产品的显示品质。

取决于该元件的类型(例如，取决于该元件是否是液晶显示元 件或者作为有机EL元件的LED元件)、或者取决于缺陷的类型(例 如，取决于该缺陷是否是短路缺陷、开路缺陷或不足的驱动状态)， 电光元件的缺陷状态以无光点(暗点或不发光像素)、亮点(具有 正常范围之外的高亮度的发光像素)、或以正常范围之外的不足发 光等级的发光点的形式出现。

在这样的情况下，采取某些方法以克服在电子设备中使用的显 示装置的缺陷，其中通过检查配置在显示面板上的每个像素以找出 任何缺陷状态(见JP-A-2003-262842(专利文献1)和 JP-A-2005-274821(专利文献2))。

例如，专利文献1披露了使用一种方法，其中通过对面板直接 再加工来修复显示面板的缺陷元件。具体地说，利用一种修复方法 来校正液晶显示装置的亮点缺陷，其中利用激光束照射缺陷元件以 对其取向膜进行再加工，从而减弱该膜的液晶取向性能以减少透射 光量。

专利文献2提出了一种发光面板，其中大量像素(每一个均包 括具有二极管特性的自发光元件)以矩阵形式配置在扫描线与数据 线间的交叉处，并且其中每个自发光元件被选择性地驱动而发光。 根据该技术，检测出发光显示面板的每个自发光元件中的任何问 题，并且检测结果被存储在存储装置中。由此识别具有问题(缺陷) 的位置，并且相应地激活缺陷通知装置。因此，用户能够迅速地得 知缺陷元件的存在。