[发明专利]电光学装置和电子设备、以及指示物体的位置检测方法

权利要求书

1.一种电光学装置，其特征在于，具备：

电光学元件，其由第1和第2电极，以及夹持在它们之间，并且由于所提供的规定的电位而使其光学特性发生变化的电光学物质构成；

位置检测单元，其用于检测：与显示由该电光学元件构成的图像的图像显示面上所接触的物体的、在该图像显示面上的位置；以及

物理量测量单元，其包含在该位置检测单元内，并且，测量与上述物体接触到上述图像显示面时的该图像显示面的全部或一部分相关的所规定的物理量，

上述位置检测单元，根据由上述物理量测量单元所测量的上述物理量的测量结果，并且根据除去了上述第1和第2电极之间的电位差的极性反转时刻的、上述物理量测量单元的测量结果的测量结果，进行上述物体的在上述图像显示面上的位置的检测。

2.如权利要求1记载的电光学装置，其特征在于：

上述物理量测量单元，仅在时间上先后的2个反转时刻之间测量上述物理量。

3.如权利要求1记载的电光学装置，其特征在于：

上述物理量测量单元，在时间上先后的2个反转时刻之间以及在该2个反转时刻之时，测量上述物理量，

上述位置检测单元，忽略上述2个反转时刻之时的上述物理量测量单元的测量结果，进行在上述图像显示面上的上述物体的位置的检测。

4.如权利要求3记载的电光学装置，其特征在于：

上述物理量测量单元按照每个划分上述图像显示面的多个测量区域，测量上述物理量，并且，重新测量关于与上述反转时刻之时检测出的上述物理量对应的上述测量区域的、该反转时刻之时以外的时候的物理量。

5.如权利要求1至4的任一项记载的电光学装置，其特征在于：

存在多个上述电光学元件，并且，它们按照矩阵状排列来进行排列；

上述物理量测量单元，包括：

与上述电光学元件的每规定的个数对应的多个物理量测量元件；和

用于读出这些物理量测量元件的测量结果的信号线，

通过上述信号线的上述物理量的读出是：在时间上连续的n个反转时刻的第m个反转时刻之后，针对与上述矩阵状排列中的某一行对应的上述物理量测量元件中的1/(n-1)个的物理量测量元件而进行的，其中n为正的整数，m＝1、2、…n-1。

6.如权利要求1至5的任一项记载的电光学装置，其特征在于：

上述物理量测量单元，在上述图像显示面的一部分中包含不显示上述图像的区域的情况下，在应该驱动与该区域对应的上述电光学元件的时刻之时，测量上述物理量。

7.如权利要求1至6的任一项记载的电光学装置，其特征在于：

上述第1和第2电极的至少一方按照矩阵状排列来进行排列，

上述电位的极性的反转是以上述矩阵状排列中的行或列作为一个单位而进行的。

8.一种电子设备，其特征在于：

具备权利要求1至7的任一项记载的电光学装置。

9.一种指示物体的位置检测方法，检测对显示图像的图像显示面上的某个地点进行指示的物体的、在该图像显示面上的位置，其特征在于，包括：

电位设定工序，为了改变在构成形成上述图像的电光学元件的第1和第2电极之间所夹持的电光学物质的光学特性，在这些第1和第2电极之间施加所规定的电位差；

物理量测量工序，测量与上述物体接触到上述图像显示面时的该图像显示面的全部或一部分有关的所规定的物理量；以及

位置检测工序，根据上述物理量测量工序的上述物理量的测量结果，检测在上述图像显示面上所接触的物体的、在该图像显示面上的位置，

上述电位设定工序，包括：使上述第1和第2电极之间的电位差的极性反转的极性反转工序，

上述位置检测工序，包括：根据将上述极性的反转时刻的上述物理量测量单元的测量结果除去之后的测量结果，检测上述物体在上述图像显示面上的位置的工序。

10.如权利要求9记载的指示物体的位置检测方法，其特征在于：

上述物理量测量工序，包括：仅在时间上先后的2个反转时刻之间测量上述物理量的工序。