[发明专利]X射线检查装置

说明书

技术领域

本发明涉及X射线检查装置，尤其涉及如下的X射线检查装置：该X射线检查装置在外壳内部设有载物台、X射线管和探测器，并使被测定物位于上述载物台上，从上述X射线管照射X射线，通过上述探测器进行摄像来检查被测定物，其中，上述载物台是可旋转的旋转台、或者偏向一侧而通孔，在通孔的部分里可旋转地设有圆形的旋转台，在上述旋转台的下部设有连杆，在上述连杆的下端里设有旋转电动机，通过固定架被固定在上述载物台上，通过旋转上述旋转电动机来使上述旋转台旋转，可进行x轴、y轴水平移动和z轴垂直移动，上述探测器可通过托架沿着导轨移动，在电气电子产品的制作工序中，在印刷电路板(printedcircuit board，PCB)上安装组件进行焊接作业后，为了提高产品的可靠性，不仅使被测定物沿x、y、z轴移动，而且使其旋转，由此可进行多种角度的检查。

背景技术

一般，电气以及电子产品中内置有多种种类的PCB。在上述产品的制作工序中，在PCB上安装组件进行焊接作业后为了提高产品的可靠性，执行对状态进行检查的工序。以前，作为这样的检查方法，有目视检查或者外观检查装置，通过照明装置和摄像机来摄影影像，输入影像后对影像信号进行处理后根据该形态判定良/不良，但仅靠外观检查有局限性，因此开发了利用X射线的x-ray检查装置。

现有的x-ray检查装置利用了X射线的物质透射性，即利用了基于具有与被透射物质的厚度和密度成反比的特性的透射X射线强度的影像形成，能够容易掌握结合状态的良/不良。

一般，x-ray检查装置在外壳内部设有载物台、X射线管和探测器，并使被测定物位于上述载物台上，从上述X射线管照射X射线，通过上述探测器摄像，由此检查被测定物。

现有的x-ray检查装置，在载物台上放置被测定物，从X射线管照射X射线，将固定探测器固定在X射线的照射范围内后测定了被测定物，所以存在关于检查部位很难得到立体且多种形态的入射角，从而导致精度降低的问题，尤其存在具有多层结构的PCB的内部的焊接部，由于形成在表面的焊接部而妨碍精密检测的问题。

为了解决上述问题，开发了可移动的形成探测器，设置成不仅具有直线的入射角，还具有倾斜的入射角的x-ray检查装置，但在这种情况下也因取得多种角度的影像有局限，存在精度降低的问题。

发明内容

本发明为了解决如上所述的现有的问题而提出，其目的在于提供如下的X射线检查装置：该X射线检查装置在外壳内部设有载物台、X射线管和探测器，并使被测定物位于上述载物台上，从上述X射线管照射X射线，通过上述探测器进行摄像来检查被测定物，其中，上述载物台是可旋转的旋转台、或者偏向一侧而通孔，在通孔的部分里可旋转地设有圆形的旋转台，在上述旋转台的下部设有连杆，在上述连杆的下端里设有旋转电动机，通过固定架被固定在上述载物台上，通过旋转上述旋转电动机来使上述旋转台旋转，可进行x轴、y轴水平移动和z轴垂直移动，上述探测器可通过托架沿着导轨移动，在电气电子产品的制作工序中，在PCB上安装组件进行焊接作业后为了提高产品的可靠性，不仅使被测定物沿x、y、z轴移动，而且使其旋转，由此可进行多种角度的检查，能够提高精度以及效率。

为了实现上述目的，本发明的X射线检查装置，在外壳内部设有载物台、X射线管和探测器，并使被测定物位于上述载物台上，从上述X射线管照射X射线，通过上述探测器进行摄像，由此检查被测定物，其中，上述载物台是可旋转的旋转台、或者偏向一侧而通孔，在通孔的部分里可旋转地设有圆形的旋转台，上述旋转台在下部设有连杆，在上述连杆的下端设有旋转电动机，通过固定架被固定在上述载物台上，通过旋转上述旋转电动机来使上述旋转台110旋转。

而且，上述旋转台可全部或者选择性地设有y轴水平移动部件、x轴水平移动部件和z轴水平移动部件，其中，该y轴水平移动部件通过固定架被支撑，并可沿y轴水平移动，该x轴水平移动部件通过固定架被支撑，并可沿x轴水平移动，该z轴水平移动部件通过固定架被支撑，并可垂直移动，上述探测器可通过托架沿着导轨移动，该导轨是圆弧型、直线型、或者圆弧型的端部里设有直线型的形态中的某一个。

而且，上述X射线管可随着被固定在导轨上移动的移动部件垂直移动。

而且，上述探测器可随着被固定在导轨上移动的移动部件垂直移动。

而且，上述连杆的中央设有通孔，上述旋转电动机由中央设有中孔的中孔电动机构成，上述探测器通过该通孔可摄像上述旋转台上的被测定物。