[发明专利]摄像系统及其控制方法有效
| 申请号: | 200910159945.7 | 申请日: | 2009-07-23 |
| 公开(公告)号: | CN101635790A | 公开(公告)日: | 2010-01-27 |
| 发明(设计)人: | 竹田伸弘 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | H04N5/217 | 分类号: | H04N5/217 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人: | 刘新宇;陈立航 |
| 地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 摄像 系统 及其 控制 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种摄像系统及其控制方法,尤其涉及用于驱 动由包括列电路的CMOS图像传感器组成的固态图像传感器的 摄像系统及其控制方法。
背景技术
传统上,已知CMOS图像传感器作为能够读出各像素的电 荷的XY寻址型图像传感器。要注意,CMOS是互补金属氧化物 半导体(Complementary Metal-Oxide Semiconductor)的缩写。与 传统主流图像传感器的CCD相比,CMOS图像传感器具有电力 消耗较少、驱动电压较低以及能够加速电荷读出等的优势。
此外,CMOS图像传感器允许片上(on-chip)外围电路,由 此已形成了包括以矩阵的形式布置的像素的各列的片上电路的 CMOS图像传感器。例如,已经提出了包括以下的各种技术: 用于利用各列的片上放大电路来实现高的S/N(信噪比)的技术, 和用于使用各列的A/D转换器通过A/D转换来实现加速的技术。
另一方面,由于制造工艺的变化引起了为各列设置的片上 电路之间特性的差异,从而导致在拍摄到的图像中出现纵条纹 状固定图案噪声。要注意,将由各列的电路特性的差异所引起 的这种噪声称为列噪声(column noise)。
日本特开2000-261730公开了一种用于降低这种列噪声的 技术。更具体地,在日本特开2000-261730中,与有效像素区域 分开设置了遮光的垂直黑色基准区域,并将来自该垂直黑色基 准区域的输出信号用于获取列噪声。然后,将所获取的列噪声 作为数字值而存储,并将所存储的数字值用于对有效像素区域 中的拍摄到的图像信号进行校正,从而可以获得降低了纵条纹 状列噪声的良好图像。
然而,根据在日本特开2000-261730中所述的方法,需要高 精确度的校正数据以正确地校正列噪声,因而该方法具有以下 问题:要求与有效像素区域分开地设置包括用于获取校正数据 的大量像素的区域,因为需要大量像素数据以沿垂直方向进行 平均化从而充分降低校正数据获取期间的随机噪声。
在不能充分降低校正数据获取期间的随机噪声的情况下, 或者在用于获取校正数据的像素区域具有缺陷等的情况下,所 获取的校正数据的精确度将降低。在将这种低精确度的校正数 据用于执行校正的情况下,存在没有降低纵条纹状噪声反而引 起了纵条纹状噪声的问题。
此外,在将来自遮光的像素的输出信号用于获取校正数据 的情况下,例如在存在像素缺陷等的异常像素的情况下或者由 于暗电流引起的不均匀等的影响,存在校正数据精确度降低的 问题。
发明内容
考虑到上述情况作出了本发明,并且本发明提供了一种能 够在无需利用除有效像素区域以外的用于校正列噪声的任何像 素区域的情况下以充分的精确度获取列噪声的摄像系统及其控 制方法。
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