[发明专利]多频等离子体刻蚀反应器有效
| 申请号: | 200910158947.4 | 申请日: | 2004-08-20 |
| 公开(公告)号: | CN101656200A | 公开(公告)日: | 2010-02-24 |
| 发明(设计)人: | R·丁德萨;S·M·R·萨德贾迪;F·考萨科维奇;D·特鲁瑟尔;L·李;E·伦兹;C·卢稣;M·斯利尼瓦萨恩;A·艾普勒;J·蒂兹;J·马克斯 | 申请(专利权)人: | 拉姆研究有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/311;H01L21/3065;H01J37/32;H05H1/24 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余 刚;吴孟秋 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 等离子体 刻蚀 反应器 | ||
1.一种在真空等离子处理舱中利用等离子处理工件的方法,其包 括采用三个或更多频率的电能来激发等离子体从而使得由三 个或更多频率所致的等离子体的激发同时地导致数个不同的 现象发生于等离子体内的步骤,其中这些现象影响入射在该工 件上的等离子体的等离子体的离子能量、等离子体的离子密度 和等离子体化学性质。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述频率的数量是三个。
3.如权利要求2所述的方法,包括选择频率以影响等离子体的密 度、等离子体的离子能量以及等离子体的化学性质,并且将选 中的频率施加到等离子体上。
4.如权利要求2所述的方法,其中所述三个频率同时激发该等离 子体。
5.如权利要求2所述的方法,其中第一频率在100kHz到10MHz 范围内,第二频率在10MHz到150MHz范围内,第三频率在 27MHz到300MHz范围内。
6.如权利要求1所述的方法,还包括将等离子体限定在远离舱的 侧壁的区域内。
7.如权利要求6所述的方法,还包括在所述区域内控制等离子体 的压强。
8.如权利要求1所述的方法,还包括改变舱内的一对电极之间的 距离,其中等离子体就是在该对电极间被激发的。
9.如权利要求1所述的方法,还包括改变处于三个或更多频率中 的至少一个频率上的功率。
10.如权利要求6所述的方法,其中该区域包括在该区域相对侧上 的第一和第二电极,以及其中该三个或更多频率同时施加在该 第一电极上而第二电极处于参考电势。
11.一种在真空等离子处理舱中利用等离子处理工件的方法,其包 括如下步骤:
采用三个或更多频率的电能来激发等离子体从而使得由 三个或更多频率所致的等离子体的激发同时地导致数个不同 的现象发生于该入射到该工件的等离子体内;
利用一对相对的电极激发等离子体;
将处于三个或更多频率的至少一个的功率耦合至该电极 的至少一个;以及
有选择地将来自该电极之一的处于三个或更多频率之一 的功率耦合至RF接地。
12.一种在真空等离子处理舱中利用等离子处理工件的方法,其包 括如下步骤:
采用三个或更多频率的电能来激发入射到该工件的等离 子体从而使得由三个或更多频率所致的等离子体的激发同时 地导致数个不同的现象发生于该等离子体内;
利用一对相对的电极激发该等离子体;
在处理工件的同时控制该相对的电极的温度。
13.一种用等离子体处理工件的装置,包括用于用等离子体处理工 件的真空舱,以及用于用处于三个或更多频率的电能激发等离 子,从而使得由该三个或更多频率所致的等离子体激发同时导 致不同现象发生于等离子体内的电源装置,其中该现象影响入 射到该工件上的等离子体的等离子体离子能量、等离子体离子 密度和等离子体化学性质。
14.如权利要求13所述的装置,其中所述频率的第一频率在 100kHz到10MHz范围内,所述频率的第二频率在10MHz到 150MHz范围内,而所述频率的第三频率在27MHz到300MHz 范围内。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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