[发明专利]一种单分子介电性质的测量方法

权利要求书

1.一种单分子介电性质的测量方法，其特征在于使用振动模式扫描极化力显微镜，采用非接触的方法来定性地表征单个分子的介电性质，测量步骤为：将振动模式扫描极化力显微镜的针尖加上交流电压，将被测分子置于云母上，利用云母与带电针尖产生的电场作用极化，被测分子对针尖的极化力根据被测分子的介电性能而变化，根据检测针尖相位的变化来表征被测分子的介电性质。

2.根据权利要求1所述的一种单分子介电性质的测量方法，其特征在于所述的振动模式扫描极化力显微镜为改造的原子力显微镜，就是原子力显微镜在轻敲模式工作时在导电针尖上加上交流电压。

3.根据权利要求1或2所述的一种单分子介电性质的测量方法，其特征在于所述的交流电压为频率1-10KHz、振幅为6-8V。