[发明专利]在测力装置中使用的信号处理方法及测力装置有效

专利信息
申请号: 200910149985.3 申请日: 2009-06-24
公开(公告)号: CN101614580A 公开(公告)日: 2009-12-30
发明(设计)人: D·雷伯 申请(专利权)人: 梅特勒-托利多公开股份有限公司
主分类号: G01G23/01 分类号: G01G23/01;G01G3/12
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 邬少俊;王 英
地址: 瑞士格*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 测力 装置 使用 信号 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种在具有测量传感器(10)的电子测力装置(1)中处理信号的方法, 所述测量传感器(10)生成与作用在所述传感器上的力(L)对应的测量信号 (SL),其中,所述测量信号直接或经由预处理阶段进入显示函数(FA(SL)), 所述显示函数(FA(SL))将相应的输出值(A)指定到所述测量信号(SL)的值, 并且其中,将所述输出值随后呈现在显示器中或被传递用于进一步处理, 其特征在于,所述显示函数(FA(SL))的输入范围包括捕捉范围,使得通过所 述显示函数(FA(SL))将共同输出值(A*)指定给处于所述捕捉范围(DSL)内的 所述测量信号(SL)的值,并且根据所述测量信号(SL)来控制所述输入范围内 的捕捉范围(DSL)的位置,

并且其特征在于,确定所述测量信号(SL)和输出值(A)之间的差值,并 且积分所述差值,以获得积分值(I,Ip,In),基于所述积分值来控制所述捕 捉范围(DSL)的位置。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,相对于在较早时间间隔 期间的测量信号(SL)的预定起始值(DSL0)和/或时间曲线来预先定义所述共 同输出值(A*)。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电子测力装置(1) 是秤。

4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述捕捉范围(DSL) 通过第一边界(DSL1)和第二边界(DSL2)与所述输入范围区分开,并且在控 制所述捕捉范围(DSL)期间,所述边界(DSL1,DSL2)之间的间隔保持不变。

5.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述捕捉范围(DSL) 包括特征值(DSL0),所述特征值体现所述捕捉范围(DSL)的位置并且根据所 述测量信号(SL)来控制所述特征值。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述特征值(DSL0)是所 述捕捉范围(DSL)的中点值。

7.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,以这样的特征来控 制所述捕捉范围(DSL)的大小:所述捕捉范围(DSL)比所述测量信号(SL)的 期望波动更宽,和/或比所述测量信号(SL)的改变量宽两倍,和/或比显示器 的分辨率更宽,和/或比进一步处理的精度更高。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述捕捉范围(DSL)比 所述测量信号(SL)的改变量宽三倍或四倍。

9.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,以步进模式来控制 所述捕捉范围(DSL)。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述步进模式具有对 应于第一校正参数(k1)的恒定步长。

11.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,形成对应于所述 测量信号(SL)的值,将所述值与阈值(S,Sp,Sn)进行比较,并且根据比较 结果来触发用来设置所述捕捉范围(DSL)的位置的动作。

12.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,以步进模式来改变所 述积分值(I,Ip,In)。

13.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,所述步进模式具有根 据与所述捕捉范围(DSL)的位置改变对应的第二校正参数(k2,k2p,k2n)的恒 定步长。

14.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,以使得改变的积分值(I, Ip,In)的量大于0的方式来改变所述积分值(I,Ip,In)。

15.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,以与所述积分值(I)的 调节同时地来控制所述捕捉范围(DSL)的位置。

16.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,积分器(INT)生成对应 于正差值的积分值(Ip)以及对应于负差值的积分值(In),并且基于这些积分 值,针对各自相反方向上的改变来控制所述捕捉范围(DSL)的位置。

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