[发明专利]检测光源的选用方法及其系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测待测物的扫描光源选用系统，特别是指一种具有选出最适用于当前待测物进行检测作业的检测光源的选用方法及其系统。

背景技术

请参照图1，其为现有技术的光源驱动、扫描与待测物缺陷检查系统。此待测物可为硬性电路板、软性电路板、软性材料、卷带1…等不同材料、特性的物件，在此以配置有印刷电路的卷带1作为解说。现有技术所述的系统包含一物件传输机构110、一扫描机构120及一控制机构130。物件传输机构110包含一供料端111与一收料端112，供料端111会释放卷带1的料带，并与收料端112以同一方向实质上同步卷动以传输卷带1至收料端112，由收料端112将料带卷收。扫描机构120包含一个光学摄影机121与一投光模块122，投光模块122在卷带1的传输路径上投射一光源，以形成投射区域，光学摄影机121用以扫描或拍摄进入投射区域的印刷电路，以产生各印刷电路的图像。控制机构130包含一机构控制模块131与一图像辨析模块132，机构控制模块131控制物件传输机构110以传输卷带1，命令投光模块122进行投光以形成上述的投射区域，并取得光学摄影机121的镜头所拍摄出的即时画面，以通过即时画面的变化来判断料带上的印刷电路进入投射区域时，对印刷电路进行扫描或拍摄形成上述的图像。图像辨析模块132内存储有关于印刷电路的至少一缺陷数据，所谓缺陷数据包含缺陷电路图形或数值化的电路配线规格。图像辨析模块132为取得光学摄影机121所产生的图像，将其与缺陷数据匹配，判断印刷电路是否正确，或印刷出的电路配线是否符合布线规格。

然而，当前的缺陷检查系统的投光模块多配置单一光源，然每一种待测物有其适用的检测光源，因此厂商在建立生产线前，需得知被测试的待测物所适用的检测光源，再购买或配置包含此检测光源的缺陷检查系统。其次，厂商作测试前的系统调整作业时，也仅能就现有的检测光源进行调整，以求取最大的检测良率，就实际应用上而言，相当的不便。再者，当厂商欲改变生产线类型时，原有的缺陷检查系统所提供的光源不见得适用于新类型的产品，必要时需整个生产设备尽数更新，除大幅提升设备成本，更突显了现行缺陷检查系统无法变换于多种不同产线，应用性甚低的问题。

因此，如何使缺陷检查系统具有可应用于不同生产线，且能取得最适用于检测待测物的投射光源，乃为厂商应思考的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可应用于不同生产线，且能取得最适用于检测待测物的投射光源的选用系统与选用方法。

本发明所提供的技术手段揭示一种检测光源的选用系统，包含一传输模块、一光源驱动模块、一控制模块、一扫描模块与一推论模块。

此传输模块用以传输一个以上的待测物，光源驱动模块提供多个相异波长的测试光源，扫描模块用以在待测物经过投射区域时线形扫描待测物，以产生待测物分别受各光源照射且被扫描形成的多个图像。控制模块控制光源驱动模块照射至少任一种测试光源于待测物的传输路径上以形成一投射区域，并取得扫描模块拍摄的即时图像，以根据即时图像判断待测物进入投射区域时令扫描模块对待测物进行扫描，且判断待测物通过投射区域后切换光源驱动模块投射的光源。推论模块包含有各待测物的一个以上的缺陷数据，推论模块会根据一分析法则将每一图像与相关的缺陷数据相比对，计算出每一图像的一品质分数，从各品质分数选出一最佳品质分数所属图像对应的光源，令光源驱动模块将此光源设为一检测用光源。

本发明所提供的技术手段揭示一种检测光源的选用方法，提供至少一待测物，从多个测试光源中，选择一测试光源照射于被传输至少一待测物上，以形成一投射区域。线形扫描待测物，以产生待测物受测试光源照射且扫描而成的对应测试光源的一图像。根据一分析法则计算出此图像的一品质分数，并在所有测试光源已全数进行照射后，根据每一图像的品质分数，选出一最佳品质分数所属的图像对应的测试光源作为扫描待测物的检测用光源。

本发明所提供的技术手段揭示一种检测光源的选用系统，包含一光源驱动模块、一扫描模块与一推论模块。