[发明专利]成像装置和处理卡盒有效

专利信息
申请号: 200910147051.6 申请日: 2009-06-08
公开(公告)号: CN101598917A 公开(公告)日: 2009-12-09
发明(设计)人: 尾崎直幸;中井洋志;山下昌秀;饭尾雅人;田中真也;长谷川邦雄 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G03G15/00 分类号: G03G15/00;G03G15/02;G03G15/08;G03G21/00;G03G21/18
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 王 冉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 成像 装置 处理
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种成像装置,例如装备有复印机、打印机、传真机和绘图机中的至少一个的复合机,更具体的说,本发明涉及一种利用将保护剂涂覆或者附着到图像承载部件的表面上的过程的成像装置;以及可拆卸的安装到所述成像装置的主体的处理卡盒。

背景技术

传统上,利用电子照相过程的成像装置具有用于为作为图像承载部件的光电导体的表面充电的充电单元。作为与充电单元一起使用的充电方法之一,存在基于紧密接触放电的充电方法,其中充电部件设置为与光电导体的表面接触或者不接触,并且所述光电导体的表面通过紧密接触放电而充电。

近年来,随着对更高质量图像,以及减小装置尺寸的需求的增长,越来越需要充电装置对高质量图像和装置尺寸的减小做出贡献。考虑到这些要求,利用紧密接触放电的充电装置是很有效的,这是因为这种充电装置不需要设置在大尺寸充电装置中,在该充电装置中,设置充电部件并且该充电部件接触或者接近该图像承载部件。

在利用所述紧密接触充电(放电)的充电装置中,在利用非接触充电方法的情况下,由于充电部件和光电导体之间的非均匀接触或者因为充电部件和光电导体之间的间隙的波动量,很难均匀的为光电导体的表面均匀充电。为了克服这个缺点,近来,经常使用AC-叠加充电法,在该方法中直流(DC)分量被叠加在交流(AC)分量上。

由于充电部件和光电导体可以以非接触的方式设置,同时保持充电的均匀性,AC分量叠加在DC分量上的紧密接触充电方法可以被称作在减小装置尺寸、形成高质量图像以及赋予光电导体良好耐久性等方面极端有利的技术。

然而,AC分量叠加在DC分量上的这样一种充电方法激活光电导体表面以增大光电导体表面和调色剂之间的粘附力,并且因此从可清洁性来说,该方法在结构上是不利的。此外,由于调色剂颗粒直径制造得较小并且更多的为球形以获得高质量的图像,可清洁性进一步退化。

另外,最近的研究披露,由于基于紧密接触放电的充电方法的使用趋于引起光电导体表面的破坏,这是因为光电导体表面和周围部分集中充电。由于紧密接触放电带来光电导体表面的退化即使在不存在与光电导体接触的元件的情况下也会发生,这与由于机械磨损引起的退化不同。

在施加的AC电压下,光电导体的可清洁性和抗磨性降低这样的问题很显著。因此,在满足可清洁性和抗磨性方面有很大的需求。

作为用于解决这些问题的装置,本发明公开了下面的结构:用于涂覆保护剂到光电导体上的保护剂施加单元设置为减小光电导体的机械磨损(参见日本专利申请公开说明书(JP-A)第2002-156877号和第2002-244516号);用于保护光电导体的表面免受化学腐蚀的保护剂施加单元(参见JP-A第2004-341480号和第2005-115311号);以及用于将固体保护剂,例如硬脂酸锌涂覆到光电导体的表面上的单元。

当使用保护剂时,所述光电导体被涂上保护剂。为了解决这个问题,已知一种用于调整保护剂涂覆量的方法。

JP-A第2005-070276号公开了一种成像装置的结构,其中在清洁单元的下游设置有保护剂涂覆机构和用于将所涂覆的保护剂形成均匀厚度的薄层的单元。

这些单元提供了同时满足光电导体的可清洁性和抗磨损的良好效果,但是产生了一个新问题,即保护剂自身穿过清洁叶片并且附着到充电部件上。

如果已经穿过所述清洁叶片的保护剂被附着到所述充电部件并在该充电部件上累积,所述保护剂显示出不希望的非正常图像,例如黑色条纹。

为了解决具有非正常图像,例如黑色条纹的问题,本申请人在JP-A第2008-122869号中提出了一种保护剂清除单元,该保护剂清除单元构造成清除粉末润滑剂以便延长充电部件的寿命。

然而,在这种方法中,所述保护剂清除单元随着时间的过去被逐渐污染,并且清除保护剂的效果减弱,因此这种方法没有实现充分延长充电部件的寿命。

在处理卡盒的形式中,虽然光电导体自身寿命较长,但是由于充电部件的污染,存在该光电导体在寿命的初期被用新的代替的问题。因此,对于延长设置在光电导体周围的全部元件的寿命的单元,仍然有研究空间。

发明内容

鉴于上述情况,本发明的一个目的是提供一种具有简单结构的成像装置和处理卡盒,该成像装置和处理卡盒允许尺寸减小和生产成本降低,由此可以防止光电导体的磨损,即使在施加的AC电压下,也可以保持光电导体的可清洁性,通过防止充电部件污染,可以实现设置在光电导体周围的全部元件的寿命更长,并且可以在很长时间段输出良好质量的图像。

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